News

22/11/2011

Park Systems nuovo AFM NX10

03/10/2011

FERA3 XMH Tescan presenta il primo Plasma FIB

01/09/2011

Oxford Plasma Technology

22/02/2011

Park introduce la Polymer Pen Lithography PPL

19/02/2011

Williams Cerac cambiano il nome in MATERION

11/02/2011

Tescan ha venduto 3 VEGA al MIT di Boston

12/01/2011

Novità mondiale nella microscopia elettronica

01/06/2010

Nuova rappresentata Hysitron Inc.

14/01/2010

KLA-Tencor acquisisce Ambios Technology

05/01/2010

Brush Engineer acquisisce Accademy Corp.

19/10/2009

SPP completa la acquisizione dei beni Aviza

09/06/2009

Nuovo sito Gambetti

04/03/2009

PIAnova sistema da sputtering in-line per TCO

01/02/2009

Park Systems ha rilasciato il nuovo AFM-SICM

30/01/2009

Accordo commerciale con Thethis

01/12/2008

P6 nuovo profilometro a stilo di KLA-Tencor

22/11/2008

Cella solare di riferimento da VLSI Standard

21/11/2008

Nanolattice standard per SEM ed AFM

18/11/2008

Lyra FEG nuovo FIB da Tescan

12/05/2008

R2B - Research to Business

08/11/2007

Promozione Controllore Multicanale MKS 647C

27/04/2007

PSIA ha cambiato il nome in Park Systems

29/01/2007

PSIA Inc. nuova rappresentata

29/11/2006

Nuovo profilometro P16+ da KLA-Tencor

17/11/2006

Mira nuovo FEG con camera ultragrande

19/07/2006

Applied MST Nano 50TM Awards

13/07/2006

Nanoforum 2006

27/02/2006

KLA-Tencor Nuovo profilometro P16

23/11/2005

PureBeta prodotti in Carburo di Silicio

01/09/2005

MIRA Nuovo Sem FEG da Tescan

12/07/2005

MKS Remote Plasma Source

06/07/2005

Nuova Piattaforma Pegasus per DRIE

05/03/2005

EDAX Offers OIM Remote Scan With TSL Suite

14/01/2005

Workshop sulla Misura Ottica dei Film Sottili

01/12/2004

Upgrade per Macchine STS

28/11/2004

Il Cercafughe MKS Pico

01/11/2004

30° Convegno Nazionale AIM

12/04/2004

Nanopics - Profilometro a Forza Atomica

01/04/2004

Cerac prodotti da evaporazione prefusi