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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM

Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica NX-Bio

Il microscopio a forza atomica Park NX-Bio è una soluzione progettata per i settori della Biologia Cellulare, Molecolare e Biomedicale che integra, in una sola piattaforma, la microscopia a Forza Atomica con quella a Conducibilità Ionica o SICM (Scanning Ion Conductance Microscope).

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Microscopio a forza atomica NX-Hivac

Microscopio a forza atomica operante in alto vuoto per l´analisi dei difetti (failure analysis) e nel settore della ricerca dei materiali e delle superfici sensibili all´esposizione in atmosfera.

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Microscopio a forza atomica NX10

L’accuratezza dei dati è di fondamentale importanza nella ricerca e la credibilità di una ricerca si basa  sulla solidità dei risultati. Il nuovo microscopio a forza atomica NX10 è la punta di diamante nella linea di prodotti Park System e garantisce un’eccezionale accuratezza di costruzione dell’immagine, velocità di scansione e tempo di vita della punta.

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Microscopio a forza atomica NX10 SICM

Il microscopio a forza atomica NX10 SICM integra alle funzionalità operative del modello standard, la possibilità di effettuare misure di corrente ionica in liquido, per le seguenti applicazioni: 

Biologia cell...

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Microscopio a forza atomica NX12

Con il nuovo microscopio a forza atomica NX12, Park Systems entra nella famiglia delle misure AFM di tipo Elettro-Chimico,  un´area di Ricerca AFM fondamentale per capire i processi in liquido di sistemi organici (inclusi i sistemi cellulari in vitro) ed inorganici, tramite gli approcci SECM (Scanning Electro-Chemical Microscope), SECCM (Scanning Electro-Chemical Cell Microscope) e anche EC-STM (Electro-Chemical -Scanning Tunneling Microscope).

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Microscopio a forza atomica NX20

Col ridursi delle dimensioni minime dei circuiti integrati ed il conseguente incremento di complessità, la qualità dei dati metrologici diventano sempre più critici per il successo della ricerca , della analisi ed, in ultimo, delle prestazioni finali dei dispositivi. La accuratezza di tali dati in nanoscala è una chiave di questo successo.

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Microscopio a forza atomica XE15

Il microscopio a forza atomica Park XE 15 include molte funzionalità specifiche che lo rendono particolarmente adatto all´utilizzo in laboratori di Failure Analysis che utilizzono campioni grandi quali wafers di Silicio.

L´ampio assortimento di tecniche ed accessori disponibili unita ad un prezzo moderato lo rendono particolarmente competitivo nel segmento dei sistemi AFM per campioni grandi.

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Microscopio a forza atomica XE7

Il microscopio a forza atomica XE 7 è la versione entry level comprensivo di tutte le modalità avanzate, dei prodotti Park,ha un design meccanico molto compatto e adatto per campioni di dimensioni medio/piccole.
Include tutti gli elementi essenziali e caratterizzanti della Park, inoltre include le modalità avanzate presenti sui modelli superiori degli AFM Park.

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SMARTSCAN

Park SmartScan è il nuovo rivoluzionario software di gestione degli AFM Park che consente anche ad utlizzatori inesperti di produrre immagini di alta qualità su scala nanometrica attraverso tre semplici clic del mouse in modalità automatica ottenedo immagini comparabili con quelle fatta da utenti esperti che utilizzano tecniche convenzionali.

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