Caratterizzazione Superficiale / Microscopi AFM
AFM , SPM e SNOM
NX 10
L’accuratezza dei dati è di fondamentale importanza nella ricerca e la credibilità di una ricerca si basa sulla solidità dei risultati. Il nuovo AFM NX10 è la nuova punta di diamante nella linea di prodotti Park System e garantisce un’eccezionale accuratezza di costruzione dell’immagine, velocità di scansione e tempo di vita della punta.
XE - 70
Versione entry level del modello XE 100, l’XE 70 ha un design meccanico molto compatto e adatto per campioni di dimensioni medio/piccole, inoltre include tutti gli elementi essenziali e piu importanti della tecnologia Park, solo il sistema ottico è manuale anziche motorizzato come nell’XE 100.
Caratteristiche principali
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Supporta tutte le modalita operative, le opzioni e gli accessori per la serie XE.
XE - 120
L’XE 120 combina in un unico sistema le possibilita di analisi offerte dalla tecnologia AFM con la versatilità di un microscopio ottico invertito.
Lo strumento in particolare consente l’identificazione ottica del campione simultaneamente all’utilizzo della sonda AFM sia in aria che in liquido.
Caratteristiche principali
- Supporta tutte le modalita operative, le opzioni e gli accessori per la serie XE.
XE - 150
Con l’XE-150 è possibile la gestione di campioni di grandi dimensioni con l’accuratezza e l’affidabilita della tecnologia XE.
Lo stage XY è motorizzato e puo gestire campioni di dimensioni fino a 150 x 150 x 27,5mm potendo esaminare qualunque punto all’interno dell’intervallo di scansione.
XE - Bio AFM per Applicazioni Biologiche
Imaging in Non contact in liquido e Microscopia a Conducibilita Ionica
Il Microscopio Park XE BIO è una soluzione progettata principalmente per i settori della biologia cellulare, molecolare e biomedicale che integra in una sola piattaforma hardware la microscopia a Forza Atomica con quella a Conducibilita Ionica.
Il sistema consente quindi la possibilita di passare molto facilmente dalla modalita AFM a quella ICM.
XE - Modalità di Imaging e Operative
Qui di seguito vengono sinteticamente elencate le possibili modalita operative e di imaging della serie XE.
XE - Moduli aggiuntivi
Qui di seguito viene sinteticamente elencata una serie di accessori tra i piu’ comunemente utilizzati.
XE - SNOM
Un sistema completo per le piu’ disparate applicazioni ottiche
Il sistema XE SNOM è stato realizzato per l’ottenimento di modalita di imaging ottico avanzate quali la Microscopia a Scansione di Campo Prossimo (SNOM) e la spettrometria Raman. Oltre a cio’ l’XE SNOM offre la possibilita di utilizzare la anche tecnologia AFM della serie XE con un’intelligente e fruibile integrazione con le misure ottiche sopra citate.