Caratterizzazione Superficiale / Microscopia Elettronica
Misura 3D attraverso il microscopio elettronico
MeX Misura 3D con il SEM
Il software MeX trasforma il SEM in uno strumento di analisi 3D. Con questo software è possibile visualizzare la topografia tridimensionale degli oggetti visualizzati dal Microscopio Elettronico attraverso l’elaborazione delle immagini digitali dell’oggetto in esame.
Il disegno modulare del pacchetto può essere adattato facilmente ai bisogni del cliente e permette di eseguire misure di profilo primario e di rugosità, di area e di volume.