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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Analisi di Superficie

IONTOF - Sistemi TOF SIMS & LEIS

Hybrid SIMS

Il TOF SIMS di IONTOF offre la possibilità di acquisire informazioni chimiche dalle regioni submicrometriche di campioni inorganici e organici. Questa peculiarità negli anni ha particolarmente affascinato i ricercatori che lavorano nel settore della biologia.

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QTAC 100 analisi superficiale LEIS

Analisi superficiale quantitativa del primo strato atomico


Il Qtac100 e una innovativa tecnica di altissima sensibilita al primo strato atomico della superficie che utilizza la tecnologia LEIS (low Energy Ion Scattering).

Tale tecnologia fornisce informazioni elementari e strutturali ad altissima risoluzione spaziale su Z , sostanzialmente confinate allo strato atomico emergente alla superficie.

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TOF.SIMS 5

La Spettrometria di Massa a Tempo di Volo (TOF.SIMS) e una tecnica di indagine superficiale estremamente sensibile e ben consolidata in molti settori dell’industria e della ricerca.
Fornisce informazioni dettagliate sulla composizione elementare e molecolare delle superfici, dei film sottili, delle interfacce e consente la ricostruzione 3D di volumi del campione.

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