Lo stato dell’arte nell’analisi SIMS

M6 – La nuova era nella tecnologia SIMS

M6 è l’ultima generazione di strumenti TOF-SIMS di fascia alta sviluppati da IONTOF. Il suo design garantisce prestazioni superiori in tutti i campi delle applicazioni SIMS. Le nuove tecnologie innovative del cannone ionico e dell’analizzatore di massa fanno dell’M6 il punto di riferimento nella strumentazione SIMS, M6 è lo strumento ideale per la ricerca industriale e accademica.

1. Alta risoluzione laterale (<50 nm) con il nuovo Nanoprobe 50
2. Risoluzione di massa> 30.000
3. Esclusiva modalità di estrazione ritardata per una elevata trasmissione simultanea, sia con elevata risoluzione laterale che di massa
4. Gamma dinamica e limiti di rilevazione senza pari
5. TOF MS / MS con frammentazione CID per una precisa interpretazione della struttura molecolare
6. Nuovo sistema di riscaldamento e raffreddamento del campione flessibile a ciclo chiuso per un funzionamento a lunga durata senza l’interazione dell’utente
7. Sofisticato software SurfaceLab 7 incluso il pacchetto software MVSA (Multivariate Statistical Analysis) completamente integrato

Nuovo analizzatore TOF

Il nuovo rivoluzionario design dell’ottica di estrazione, il sistema di trasferimento e rilevamento di ioni fornisce un nuovo livello di risoluzione della massa, precisione e trasmissione della massa.

TOF MS / MS

Con la nuova opzione MS / MS IONTOF offre ora un costo vantaggioso la soluzione MS MS per l’M6. L’opzione è ideale per una rapida conferma di contaminanti o composizioni (attese) per applicazioni di imaging MS / MS veloci o depth profiling.

Sorgente ionica a cluster di gas

L’M6 può essere equipaggiato con una sorgente ionica (Gas Cluster Ion Source) sviluppata per applicazioni TOF-SIMS organiche di depth profiling, o applicazioni di depth profiling con ioni cluster di ossigeno.

Nanoprobe 50

Il nuovo punto di riferimento nella tecnologia a fascio ionico

Il Nanoprobe 50 è la sorgente ionica a cluster di bismuto di ultima generazione per l’M6. Fornisce le massime correnti di fascio e le migliori risoluzioni laterali garantite, fino a 50 nm.

Sorgente ionica del cluster di gas

L’M6 può essere dotato di una sorgente ionica gas cluster sviluppata per applicazioni organiche di profili della profondità TOF-SIMS e di profili della profondità del cluster di ossigeno.

Depth profiling a doppio cannone (dual beam)

Da nm a µm – il nuovo M6 può essere equipaggiato con il cannone a ioni per sputter ad alte prestazioni per profili di profondità inorganici con O₂ e Cs.

Porta campione riscaldato e raffreddato

Il nuovo sistema di riscaldamento e raffreddamento del campione consente tempi di raffreddamento del campione estremamente brevi e la movimentazione del campione durante l’analisi.

SurfaceLab 7

Il pacchetto software SurfaceLab 7 per gli strumenti IONTOF comprende il funzionamento interattivo dello strumento e l’analisi dei dati, inclusi gli strumenti di analisi statistica multivariata.

Fascio ionico focalizzato (FIB)

L’estensione FIB per M6 consente all’operatore di superare i limiti del classico approccio di profilatura della profondità su campioni estremamente ruvidi o porosi, combinando una colonna FIB con imaging TOF-SIMS ad alta risoluzione laterale.