Caratterizzazione Superficiale / Microscopi AFM
AFM , SPM e SNOM
Park Systems
Park Systems è una società sud coreana, produttrice di microscopi a forza atomica
(AFM) fondata nel 1997 dal Dr. Sang-il Park, denominata PSIA (Park Scientific
Instruments Advanced) fino all ´ aprile 2007.
La più che ventennale esperienza di progettazione del Dr. Sang-il Park, costituisce il nucleo di forza di questa società nello sviluppo della tecnologia dei Microscopi a Forza Atomica.
La storia della Park Systems arriva, attraverso diverse denominazioni, acquisizioni e fusioni, sino alle origini ed alla nascita della tecnologia AFM.
I Microscopi della serie XE rappresentano la terza generazione di strumenti realizzata dal team del Dr. Park e sono il risultato di molti anni di intensa attività di ricerca e sviluppo.
A seguito dell´esperienza accumulata con le due precedenti generazioni la serie XE, grazie alle sue peculiari ed innovative caratteristiche metrologiche, rappresenta indiscutibilmente un punto di riferimento nello scenario attuale della tecnologia AFM.
Il 21esimo secolo è l´era delle Nanotecnologie. Assieme alle Biotecnologie e alle Tecnologie Informatiche, le Nanotecnologie promettono profondi impatti e cambiamenti in molte aree della vita quotidiana. In questo contesto la Park Systems si propone di essere la Società Leader nella misura e caratterizzazione dei Nanosistemi attraverso l´implementazione e la diffusione delle proprie tecnologie sia nei settori industriali che nella Ricerca e Sviluppo di base.