Microscopio a forza atomica NX10

L’accuratezza dei dati è di fondamentale importanza nella ricerca e la credibilità di una ricerca si basa sulla solidità dei risultati.

Il nuovo microscopio a forza atomica NX10 è la punta di diamante nella linea di prodotti Park System e garantisce un’eccezionale accuratezza di costruzione dell’immagine, velocità di scansione e tempo di vita della punta.
L’NX10 è il primo strumento in grado di misurare direttamente la topografia in Z attraverso un sensore lineare indipendente dal motore di scansione e consente di lavorare in True Non Contact Mode AFM con elevatissima linearità ed ortogonalità degli assi XYZ e bassissima deriva termica grazie alla combinazione di materiali auto compensati utilizzati.

Gli elementi distintivi della tecnologia Park NX10 sono:

Immagini AFM accurate grazie all’eliminazione del Crosstalk elettronico Moto lineare in XY e Z con due set di motori indipendenti per campione e punta
Movimento fuori piano <1nm sull’intero intervallo di scansione XY
Non Linearità dell’asse Z < 0.015%
Ridottissimo effetto di risonanza del tavolino di scansione attraverso l’implementazione dell’algoritmo Forward-Sine
Immagini AFM accurate grazie all’utilizzo della modalità True Non Contact Mode™
Eccezionale ampiezza di banda passante in Z fino a 9kHz velocità di retroazione della punta fino a 62mm/s
Massima velocità di scansione in True Non Contact Mode™
Minore usura della punta per prolungato mantenimento dell’alta risoluzione in scansione
Minimizzazione dell’interazione punta campione con conseguente assenza di danneggiamento o modifica superficialeImmagini AFM accurate grazie alla tecnologia True Sample Topography
La topografia reale del campione viene quantificata attraverso un sensore di misura indipendente dal motore Z, lineare e a bassissimo rumore
Disaccoppiamento delle tracce di scansione forward backward minore dello 0.15%
Deriva termica meccanica minimizzata attraverso l’utilizzo di materiali auto compensati in temperature
Controllo attivo della Temperatura all’interno dell’isolatore acustico
Cambio cantilever semplicissimo con grande area di accesso alla punta ed al campione
Allineamento del laser attraverso le punte premontate e l’ottica top down
Ingaggio automatico del cantilever con la superficie del campione entro 10s.
Elettronica a 24 bit con tre amplificatori lock in interni, Q control e calibrazione della spring constant inclusi.