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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica XE7


Il microscopio a forza atomica XE 7 è la versione entry level comprensivo di tutte le modalità avanzate, dei prodotti Park,ha un design meccanico molto compatto e adatto per campioni di dimensioni medio/piccole.
Include tutti gli elementi essenziali e caratterizzanti della Park, inoltre include le modalità avanzate presenti sui modelli superiori degli AFM Park.
 
Caratteristiche principali

  • Tavolino di scansione da 10x10um con motori XY separati da Z
  • Moto fuori piano XY inferiore a 2nm
  • 12um di scansione su Z
  • Banda passante dell’asse Z 10 volte superiore rispetto ad un piezotubo convenzionale
  • Tempo di vita della punta prolungato con True Non-Contact ModeTM
  • Ottica di messa fuoco manuale
  • Montaggio della punta facilitato
  • Allineamento laser facilitato
  • Elettronica a basso rumore

 

Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


Link al Sito Park Systems