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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica NX10


L’accuratezza dei dati è di fondamentale importanza nella ricerca e la credibilità di una ricerca si basa  sulla solidità dei risultati. Il nuovo microscopio a forza atomica NX10 è la punta di diamante nella linea di prodotti Park System e garantisce un’eccezionale accuratezza di costruzione dell’immagine, velocità di scansione e tempo di vita della punta.
L’NX10 è il primo strumento in grado di misurare direttamente la topografia in Z attraverso un sensore lineare indipendente dal motore di scansione e consente di lavorare in True Non Contact Mode AFM con elevatissima linearità ed ortogonalità degli assi XYZ e bassissima deriva termica grazie alla combinazione di materiali autocompensati utilizzati.

Gli elementi distintivi della tecnologia Park NX10 sono:

  • Immagini AFM accurate grazie all’eliminazione del Crosstalk elettronico Moto lineare in XY e Z con due set di motori indipendenti per campione e punta
  • Movimento fuori piano <1nm sull’intero intervallo di scansione XY
  • Non Linearità dell’asse Z < 0.015%
  • Ridottissimo effetto di risonanza del tavolino di scansione attraverso l’implementazione dell’algoritmo Forward-Sine
  • Immagini AFM accurate grazie all’utilizzo della modalità True Non Contact ModeTM
  • Eccezionale ampiezza di banda passante in Z fino a 9kHz velocità di retroazione della punta fino a 62mm/s
  • Massima velocità di scansione in True Non Contact ModeTM
  • Minore usura della punta per prolungato mantenimento dell’alta risoluzione in scansione
  • Minimizzazione dell’interazione punta campione con conseguente assenza di danneggiamento o modifica superficialeImmagini AFM accurate grazie alla tecnologia True Sample Topography

 

  • La topografia reale del campione viene quantificata attraverso un sensore di misura indipendente dal motore Z, lineare e a bassissimo rumore
  • Disaccoppiamento delle tracce di scansione forward backward minore dello 0.15%
  • Deriva termica meccanica minimizzata  attravreso l’utilizzo di materiali autocompensati in temperature
  • Controllo attivo della Temperatura all’interno dell’isolatore acusticoProduttività AFM NX10
  • Cambio levetta semplicissimo con grande area di accesso alla punta ed al campioneIntuitivo
  • Allineamento del laser attraverso le levette premontate e l’ottico Top Down
  • Ingaggio automatico della levetta con la superficie del campione entro 10s.
  • Elettronica a 24 bit con tre amplificatori lock in interni, Q control e calibrazione della costante di  molla inclusi.

Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


Link al Sito Park Systems

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Brochure NX 10