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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica XE15


Il microscopio a forza atomica Park XE 15 include molte funzionalità specifiche che lo rendono particolarmente adatto all´utilizzo in laboratori di Failure Analysis che utilizzono campioni grandi quali wafers di Silicio.

L´ampio assortimento di tecniche ed accessori disponibili unita ad un prezzo moderato lo rendono particolarmente competitivo nel segmento dei sistemi AFM per campioni grandi.

Facilità di misura dei campioni con MultiSampleTM Scan

  • Raccolta automatica di immagini su più campioni
  • Portacampioni specifico per alloggiamento di più campioni, fino a 16.
  • Tavolino portacampioni XY completamente motorizzato, scansione massima 200 x 200mm.
  • Scansioni accurate con Crosstalk Elimination
  • Sistema di scansione duale ed indipendente di tipo closed-loop in XY e Z e  flexure scanners per campione e punta
  • Scansione piatta e lineare su XY fino a 100 µm x 100 µm con minimo imbarcamento residuo
  • Moto fuori piano inferione a 2nm sull´intera area di scansione
  • Fino a 25 μm di scansione su Z

Incremento del tempo di vita della punta e assenza di danneggiamento del campione con True Non-Contact™ Mode

 

  • Banda passante 10 volte più ampia rispetto ad un piezotubo
  • L´AFM attrattivo Non Contact, incrementa il tempo di vita utile della punta
  • Mantenimento delle condizioni di alta risoluzione per un tempo più lungo rispetto a tecniche intermittenti

Esperienza d´uso migliorata e facilitata

  • Accesso laterale aperto per cambio punta e campione veloce
  • Allineamento del laser inituitivi con levette premontate e preallineate
  • Montaggio/smontaggio testa veloce tramite innesto a coda di rondine
  • Interfaccia utente moderna ed intuitiva


Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


Link al Sito Park Systems

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Depliant XE - 15