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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica NX12


Con il nuovo microscopio a forza atomica NX12, Park Systems entra nella famiglia delle misure AFM di tipo Elettro-Chimico,  un´area di Ricerca AFM fondamentale per capire i processi in liquido di sistemi organici (inclusi i sistemi cellulari in vitro) ed inorganici, tramite gli approcci SECM (Scanning Electro-Chemical Microscope), SECCM (Scanning Electro-Chemical Cell Microscope) e anche EC-STM (Electro-Chemical -Scanning Tunneling Microscope).

A tutto questo, NX12 associa la possibilità di fare misure in liquido tipo SICM (Scanning Ion Conductance Microscope), questo con l´ausilio di un IOM, Inverted Optical Microscope della Nikon, fondamentale per lo studio in Vitro di colture cellulari di cui si voglia fare la caratterizzazione EC.

Opzionalmente è anche possible dotare NX12 di fluorescenza, cosa che fornisce allo strumento persino la possibilità di informazioni a livello di Volume.

Infine, lo strumento è dotato sempre del SW di Park Systems "Smart Scan", che permette la gestione della macchina in perfetta autonomia ed in modo automatico, riducendo enormemente i tempi di acquisizione e lasciando il ricercatore libero di concentrarsi su altro progetto, mentre si acquisiscono i dati.

 

 

Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


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Brochure NX12