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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica NX10 SICM


Il microscopio a forza atomica NX10 SICM integra alle funzionalità operative del modello standard, la possibilità di effettuare misure di corrente ionica in liquido, per le seguenti applicazioni: 

Biologia cellulare

Morfologia imaging cellulare, la biopsia nano e iniezione

Chimica analitica

Imaging reazione elettrochimica per integrazione della microscopia a scansione elettrochimica

Elettrofisiologia

Rilevamento canale ionico insieme con la patch di bloccaggio

 Neuroscienze

Immagini ad alta risoluzione di singolo neurone integrato con la patch di bloccaggio

 

 

Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


Link al Sito Park Systems