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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Park Systems - Microscopi a forza atomica

Microscopio a forza atomica NX-Hivac


Microscopio a forza atomica operante in alto vuoto per l´analisi dei difetti (failure analysis) e nel settore della ricerca dei materiali e delle superfici sensibili all´esposizione in atmosfera.

Park NX-HIVAC consente agli ingegneri nel campo dell’analisi dei difetti di migliorare la sensibilità e la ripetibilità delle loro misure AFM, grazie all´utilizzo dello strumento in alto vuoto, evitando di avere un’ambiente di misura contenete contaminanti come l’ossigeno, prodotti organici ed altri agenti.
Un’applicazione peculiare è la misura della concentrazione di drogante tramite Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM).

 

Note Applicative :

Consulta gli articoli tecnici realizzati con i microscopi a forza atomica Park

 

Sito Park Systems :


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