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PRODOTTI GGK

OCCASIONI

Caratterizzazione Superficiale / Misure di spessore, profili, rugosità, stress, nanoindentazione / KLA-Tencor - Profilometri a stilo ed interferometrici

Profilometro Ottico Z20


Il profilometro ottico Z20 di ZETA Instruments, grazie al suo progetto innovativo, consente di misurare campioni anche una con bassa riflettività e basso un contrasto. A differenza di altri strumenti presenti sul mercato, questo strumento consente di effettuare misure sia su campioni estremamente rugosi quindi con una topografia superficiale molto ampia, sia su campioni estremamente lisci con rugostà dell´ordine dell´angstrom.
Lo strumento a differenza di altri è insensibile alle vibrazioni e consente di  misurare anche campioni tiltati (inclinati), sono misurabili tutti i tipi di superficie, anche attraverso rimestimenti trasparenti protettivi come vetri o similari.

Incorpora le seguenti modalità di misura:


ZDot ™
Per la misura in profilometria ottica di qualsiasi tipo di superfice e di segnale luminoso


ZX5 & ZX100
Modalità interferometrica (necessita di obiettivi specifici Mirau o Michelson)  con una ampia escursione se Z

ZIC
Tecnica di interferenza a contrasto di tipo quantitativo, si riescono a misurare rugosità inferiori all´angstrom

ZSI
E´ una modalità che consente di utilizzare ottiche standard per poter effettuare misure interferometriche

ZFT
Consente di effettuare misure di riflettività fino a tre strati con spessori di film trasparenti o semitrasparenti da 30 nm a 70 um.

Applicazioni :

  • Analisi della topografia superficiale
  • Metrologia 3D
  • LED ad alta brillanza
  • Metrologia nei semiconduttori
  • Ricerca e Sviluppo in ambito Universitaria ed Industriale
  • Celle Solari
  • Topografia indotta da laser
  • MEMS e MicroFluidica
  • LAB on Chip
  • Produzione PCB e Flex PCB
  • Biomedicale