Microscopio a forza atomica XE15

Descrizione

Il microscopio a forza atomica Park XE15 include molte funzionalità specifiche che lo rendono particolarmente adatto all´utilizzo in laboratori di Failure Analysis che utilizzono campioni grandi quali wafers di Silicio.

L´ampio assortimento di tecniche ed accessori disponibili unita ad un prezzo moderato lo rendono particolarmente competitivo nel segmento dei sistemi AFM per campioni grandi.

Facilità di misura dei campioni con MultiSample™ Scan

Raccolta automatica di immagini su più campioni
Portacampioni specifico per alloggiamento di più campioni, fino a 16.
Tavolino portacampioni XY completamente motorizzato, scansione massima 200 x 200mm.
Scansioni accurate con Crosstalk Elimination
Sistema di scansione duale ed indipendente di tipo closed-loop in XY e Z e flexure scanners per campione e punta
Scansione piatta e lineare su XY fino a 100 µm x 100 µm con minimo imbarcamento residuo
Moto fuori piano inferione a 2nm sull´intera area di scansione
Fino a 25 μm di scansione su Z

Incremento del tempo di vita della punta e assenza di danneggiamento del campione con True Non-Contact™ Mode

Banda passante 10 volte più ampia rispetto ad un piezotubo
L´AFM attrattivo Non Contact, incrementa il tempo di vita utile della punta
Mantenimento delle condizioni di alta risoluzione per un tempo più lungo rispetto a tecniche intermittenti