• Il microscopio a forza atomica NX7 si basa sulla tecnologia più avanzata sviluppata da Park Systems a un livello di prezzo accessibile per il vostro laboratorio. Progettato con la stessa attenzione ai dettagli dei nostri modelli più avanzati, l’NX7 consente di effettuare le misure con tempi e costi adeguati.

  Scansione XY più accurata grazie alla rimozione della crosstalk contamination

• Lo scanner XY flexure-guided per la scansione e il posizionamento del campione è separata dal meccanismo di feedback topografico dello scanner Z
• La struttura flexure-guided minimizza la curvatura del background
• Il controllo di retroazione a ciclo chiuso (closed loop) garantisce un posizionamento più preciso in XY

È possibile ottenere misurazioni più accurate dell’altezza senza necessità di elaborazione software

La soluzione più versatile per un AFM

• Il microscopio supporta la più completa gamma presente sul mercato di modalità operative
• Le modalità di misura nanomeccaniche avanzate sono abilitate di default dal controllore elettronico
• L’AFM consente diversi aggiornamenti e compatibilità con varie modi SPM

Caratteristiche software e hardware orientate alla user experience

• L’accesso laterale aperto consente una facile sostituzione del campione o della punta
• L’allineamento laser facile e intuitivo supporta l’utilizzo di punte pre-montate e pre-allineata
• Park SmartScan™ è un software operativo AFM talmente versatile da consentire sia ai principianti che agli utenti esperti di realizzare eccellenti ricerche su scala nanometrica