IONTOF QTAC 100

Analisi superficiale quantitativa del primo strato atomico

Il Qtac100 è una innovativa tecnica di altissima sensibilita al primo strato atomico della superficie che utilizza la tecnologia LEIS (low Energy Ion Scattering).

Tale tecnologia fornisce informazioni elementari e strutturali ad altissima risoluzione spaziale su Z, sostanzialmente confinate allo strato atomico emergente alla superficie.

Con tale tecnologia e possibile gestire un piccolo spot di analisi e quindi ottenere immagini superficiali ad alta risoluzione nonche analisi di profili di profondita statici e dinamici.La caratteristica principale del Qtac100 e di non essere una tecnica di indagine distruttiva rendendola cosi particolarmente adatta ai piu’ delicati studi di processi superficiali.

Il Qtac100 vien utilizzato in diversi settori dell’industria e della ricerca quali la catalisi, i semiconduttori, i metalli, i polimeri, le celle a combustibile ed i biomateriali.

Complessivamente i vantaggi distintivi di tale tecnologia sono:

• sensibilita del rivelatore LEIS incrementata di 3000 volte rispetto al rivelatore convenzional
• Analisi chimica quali/quantitativa del solo primo strato superficiale
• Possibilita di indagine spettroscopica e di profilo
• Filtro di massa a tempo di volo per ottenimento di elevate sensibilita
• Analisi di superfici corrugate e non conduttive

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