Nuovo misuratore della resistività di Filmetrics, a contatto 4P e non a contatto eddy current
Articoli
Prometheus ALD
ALD per polveri da laboratorio per R&D
Athena ALD
ALD per oggetti 3D e materiali porosi per R&D
Partner
Forge Nano realizza sistemi e processi di rivestimento di precisione uniformi a livello atomico per materiali avanzati su polveri PALD e particolari 3D, attraverso una serie di sistemi ALD innovativi di propria realizzazione, utilizzanti una ampio portafoglio di brevetti innovativi , che la rendono leader tecnologico mondiale nel settore, ,oltre a poter fornire un servizio conto terzi di rivestimenti ALD leader nel settore.
Wikipedia cosa è il processo ALD
Alcuni partners/clienti mondiali, quali:
Volkswagen, LG Corporation, Mitsui Kinzoku, University of Maryland, Oakridge National Laboratory ,Argonne National Laboratory
AURIX
Sistema per la preparazione di superfici e la deposizione di rivestimenti superficiali avanzati e strati protettivi per dispositivi sensibili.
XERIC
Tecnologia utilizzante Difluoruro di Xenon in fase vapore per la rimozione a secco di strati sacrificali di Silicio e di SiO2
Partner
Dal 2003, memsstar è uni dei principali fornitori europeo per soluzioni di attacco e deposizione per il mercato dei semiconduttori, MEMS e relativi processi di produzione tecnologica.
memsstar produce sistemi avanzati per etching, deposizione e rivestimento superficiale, utilizzati nella realizzazione di dispositivi MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), offrendo una varietà di soluzioni di processo per R&D e produzione
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Vista-IR AFM - IR PiFM
Vista-IR combina la tecnica AFM e la spettroscopia IR (AFM-IR)
Molecular Vista progetta, progetta e fornisce strumenti che consentono ai suoi clienti di sondare e comprendere la materia a livello molecolare attraverso la visualizzazione quantitativa. Molecular Vista è stata fondata da due veterani del settore, il Prof. Kumar Wickramasinghe (UC Irvine e precedentemente con IBM Research) e il Dr. Sung Park (co-fondatore di Park Scientific Instruments).
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Mappatura automatizzata dello spessore del film F54
F54 Misura la mappatura dei film sottili, per campioni fino a 200mm di diametro
Misuratore della resistività R50
R50 Misuratore della resistività dei film
Sistemi di mappatura automatici
Spettrofotometri per la mappatura 3D automatica dei film sottili su più punti, per dimensioni fino a 200mm di diametro e con diverse lunghezze d'onda
Misurazioni microscopiche a singolo punto
Sistema per la misura dello spessore dei film sottili con spot di 1 um, adattabile anche mu microscopi ottici esistenti, grazie all'adattatore Cmount.
Misurazioni dello spessore a singolo punto
Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d'onda da 190 a 1690 nm.
Optical monitor per processi in linea
Sistemi optical monitor per la misura del rate di deposizione, spessore del film, constanti ottiche, all'interno dei sistemi di deposizione per film sottili
Profilometro ottico Profilm3D
Profilometro ottico 3D a luce bianca WLI, primo strumento al mondo ad un costo contenuto che consente di ottenere misure 3D, di rugosità, gradini, in modo semplice ed accurato
Partner
Filmetrics è stata fondata nel 1995 con lo scopo di rendere le misure dei film sottili facili e ad un costo competitivo. Questo nuovo concetto ha cambiato lo scenario nel mercato, in quanto prima, il costo di questa tipologia di strumenti per misura dello spessore dei film sottili
Filmetrics ha quindi introdotto un approccio rivoluzionario, attraverso un’elettronica ed un software di controllo che consentono di effettuare misure dello spessore dei film sottili in tempi brevissimi, anche da utenti inesperti che possono essere formati in pochi minuti.
Attualmente abbiamo linee di prodotti:
- Sistemi per la misura a singolo spot
- Sistemi per la misura con spot micro
- Sistemi per la misura e mappatura automatica
- Sistemi per la misura dei film optical monitor
- Profilometria ottica
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Sistema TF500, TF600, TF800 per sputtering evaporazione di film sottili
Sistemi TF500, TF600, TF800 per deposizione di film sottili
Sistema PVD ATS500 per la ricerca e produzione
ATS500 sistema di deposizione di film sottili molto versatile
Sistema Auto306 Lab Coater
Auto306 sistema di deposizione versatile e compatto per SEM e R&D
Partner
HHV Ltd fa parte di HHV di Bangalore, una delle principali aziende di tecnologia per film e vuoto sottili in India. Fondata negli anni ’60, hAV ha 50 anni di esperienza nella progettazione e produzione di sistemi e attrezzature ad alto vuoto per la ricerca e le applicazioni industriali. I prodotti HHV includono sistemi di rivestimento sottovuoto su scala industriale e di laboratorio per rivestimenti ottici, decorativi e funzionali, rivestitori di telescopi astronomici di 3,7 metri, camere di simulazione spaziale e forni sottovuoto per la produzione di metalli, oltre a sistemi PECVD e RIE per l’elettronica e la ricerca MEMS. HHV è un produttore di componenti ottici rivestiti di precisione per applicazioni speciali e personalizzate.
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Sistema Auto306 Lab Coater
Auto306 sistema di deposizione versatile e compatto per SEM e R&D
Metalizzatore e carbonatore BT150 & BT300
Metalizzatori BT150 e BT300 per la preparativa campioni SEM e per R&D
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HHV Ltd fa parte di HHV di Bangalore, una delle principali aziende di tecnologia per film e vuoto sottili in India. Fondata negli anni ’60, hAV ha 50 anni di esperienza nella progettazione e produzione di sistemi e attrezzature ad alto vuoto per la ricerca e le applicazioni industriali. I prodotti HHV includono sistemi di rivestimento sottovuoto su scala industriale e di laboratorio per rivestimenti ottici, decorativi e funzionali, rivestitori di telescopi astronomici di 3,7 metri, camere di simulazione spaziale e forni sottovuoto per la produzione di metalli, oltre a sistemi PECVD e RIE per l’elettronica e la ricerca MEMS. HHV è un produttore di componenti ottici rivestiti di precisione per applicazioni speciali e personalizzate.
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Avantage - software per l'analisi di superficii
Software Avantage per l'analisi di superficie XPS
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Thermo Scientific è uno dei maggiori gruppi industriali al mondo per la fornitura di strumentazione analitica, con un fatturato che ha superato i 18 M di $ nell’ultimo anno e con più di 50.000 occupati in 50 paesi del mondo.
Gambetti Kenologia rappresenta in Italia la divisione degli strumenti per analisi superficiale XPS (Photon electron X-Ray Spettroscopy) di Thermo Scientific
La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica utilizzata per analizzare la chimica delle superfici di un materiale. Con questa tecnica si può misurare la composizione elementare, la formula empirica, lo stato chimico e lo stato elettronico degli elementi di un materiale.
Gli Spettri XPS sono ottenuti irradiando una superficie solida con un fascio di raggi X e, contemporaneamente, misurando l’energia cinetica degli elettroni che vengono emessi dai primi strati superficiali (da 1 a 10 nm del materiale analizzato).
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Software SMARTSCAN
Software SmartScan è il nuovo rivoluzionario software di gestione degli AFM Park
Partner
La società di AFM con la crescita più rapida e con le maggiori risorse.
Park Systems si sforza ogni giorno di essere all´altezza dello spirito innovativo dei suoi inizi. Nel corso della sua lunga storia, ha sempre onorato l´impegno nel fornire i microscopi a forza atomica AFM più precisi e facili da usare, con funzionalità rivoluzionarie come la modalità True Non-Contact ™ e molti software automatici. Park non si accontanta di riposare sul successo passato, ma vuole continuamente innovare e migliorarsi. Tutti i prodotti sono progettati con la stessa cura e creatività del primo, permettendoti di concentrarti sull´ottenere risultati senza preoccuparti dell´integrità dei tuoi strumenti.
Dopo oltre un quarto di secolo di crescita continua e innovazione di prodotto, Park ha la più lunga storia di business AFM nel settore. La società ha sviluppato una rete di vendita globale di oltre 30 paesi e ha oltre 1000 AFM in uso in tutto il mondo. È la società AFM in più rapida crescita con oltre 120 dipendenti a tempo pieno dedicati alla produzione degli AFM più precisi e facili da usare.
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Ellissometro spettroscopico UNECS-1M
Ellissometro spettroscopico di tipo compatto, da integrare nelle macchine di processo
Ellissometro spettroscopico UNECS portatile
Ellissometro spettroscopico in versione portatile
Ellissometro UNECS 3000A
Ellissometro spettroscopico in versione da banco con stage motorizzato in X,Y,R per wafer da 300 mm, consente di effettuare mappature 2D di un wafer intero (da 300mm) in poco più di due minuti.
Ellissometro spettroscopico UNECS 2000A
Ellissometro spettroscopico in versione da banco con stage motorizzato in X,Y,R e Z
Ellissometro
Ellissometro spettroscopico in versione da banco con stage manuale X,Y e R
Ellissometro spettroscopico UNECS 1500A
Ellissometro spettroscopico in versione da banco con stage portacampione motorizzato in X,Y,R e Z
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ULVAC Inc. è una nota Società Giapponese Multinazionale che opera, sindal 1952, nel settore del Vuoto e delle tecnologie ad esso correlate.
Rimane forse la solo multinazionale che produce tutta la filiera del vuoto “in verticale”, ovvero dalla singola pompa sino ad un impianto completo di deposizione per films sottili o di etching per il mercato dei semiconduttori, per i produttori di FPD, impianti a film sottile per ottica ecc..
La Gambetti Kenologia collabora con ULVAC per quanto concerne la ellissometria spettroscopica, promuovendo sul mercato Italiano un interessante ellissometro della serie UNECS, molto innovativo e di semplice utilizzo rispetto agli strumenti tradizionali.
Commercializziamo inoltre la gamma ULVAC dei cercafughe ad Elio e sniffer della serie HELIOT, che hanno alcune caratteristiche che li differenziano rispetto agli strumenti attualmente sul mercato.
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Profilometro AlphaStep® D-500
Profilometro a stilo AlphaStep® D-500 con stage manuale
Profilometro AlphaStep® D-600
Profilometro a stilo Alpha-Step® D-600 con stage automatico
Profilometro a stilo P-7
Profilometro a stilo serie P7 con stage automatico
Profilometro a stilo P-17
Profilometro a stilo serie P7 con stage automatico
Profilometro ottico MXAM800
Il MicroXAM-800 è un interferometro ottico per la misura delle superfici
Profilometro ottico Z20
Z20 profilometro ottico confocale di tipo multimodale
Profilometro ottico
Z300 profilometro ottico confocale di tipo multimodale
Profilometro ottico Z-388
Z388 profilometro ottico confocale di tipo multimodale automatizzato
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KLA è stata costituita nel maggio del 1997 e nasce dalla fusione di due società (KLA Instruments e Tencor Instruments) leader nel settore della strumentazione di caratterizzazione nell´industria dei semiconduttori. Con un fatturato complessivo di quasi 1 miliardo di dollari e più di 4800 dipendenti, KLA è in grado di offrire una ampia gamma di sistemi di controllo con una produttività senza eguali.
Fondata nel 1976 ed accreditata come azienda pionieristica nel proporre soluzioni ad alta produttività nel mercato dei semiconduttori, KLA, nel 1978, ha iniziato a realizzare sistemi di ispezione che hanno ridotto il tempo di verifica delle fotomaschere da 8 ore a 15 minuti. La società si è quotata in borsa nel 1980 ed ha ampliato molto velocemente la gamma di prodotti per il controllo dei wafers. Due anni più tardi la società è entrata anche nel settore della metrologia dei wafer con strumenti di misura ottici.
KLA ha poi continuato a sviluppare le sue lineee di prodotti, progettando un software di analisi per l´integrazione dei dati delle ispezioni e delle misure. E´ stata la prima società del settore ad offrire un servizio di consulenza tecnica per fornire al cliente soluzioni per il miglioramento della produttività attraverso i propri sistemi di ispezione. Al momento della fusione con Tencor, KLA aveva un fatturato di 695 milioni di dollari e 2500 impiegati in tutto il mondo.
Anche la Tencor fu fondata nel 1976 proponendo Alpha-Step, un profilometro per la caratterizzazione superficiale. Alpha-Step ha fornito un miglioramento significativo nella misura dello spessore dei film sottili che fino ad allora era considerato un parametro critico.
Nel 1984, la società ha introdotto il primo Surfscan basato sulla tecnologia a scansione laser, per la misura della contaminazione superficiale dei wafer, diventato ben presto uno standard nel mercato dei semiconduttori. Negli anni 90, Tencor ha ampliato la sua linea di prodotti inserendo sistemi per l´analisi dei difetti. Nel 1993 ha acquisito la società Prometrix, leader nella produzione di sistemi ottici per la misura dei film sottili. Al momento della fusione con KLA, Tencor aveva un fatturato di 403 milioni di dollari e 1400 impiegati in tutto il mondo.
La Gambetti Kenologia ha rappresentato la società Tencor sino alla fusione nel 1997 con KLA. Nel corso dell´anno KLA ha aperto in Italia un ufficio dedicato ai clienti del mercato dei semiconduttori mentre la Gambetti Kenologia, per quanto riguarda il mercato italiano, ha continuato a distribuire in esclusiva la linea di profilometria e caratterizzazione.
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