GAMBETTI Kenologia Srl
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Filmetrics – misura spessore e resistività dei film sottili

Aprile 23, 2019/in /da gambetti

Filmetrics – misura spessore e resistività dei film sottili

Prodotti

Tutto 7 /Misura dello spessore dei film sottili - Filmetrics 7

Mappatura automatizzata dello spessore del film F54

F54 Misura la mappatura dei film sottili, per campioni fino a 200mm di diametro

Misuratore della resistività R50

R50 Misuratore della resistività dei film

Sistemi di mappatura automatici

Spettrofotometri per la mappatura 3D automatica dei film sottili su più punti, per dimensioni fino a 200mm di diametro e con diverse lunghezze d'onda

Misurazioni microscopiche a singolo punto

Sistema per la misura dello spessore dei film sottili con spot di 1 um, adattabile anche mu microscopi ottici esistenti, grazie all'adattatore Cmount.

Misurazioni dello spessore a singolo punto

Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d'onda da 190 a 1690 nm.

Optical monitor per processi in linea

Sistemi optical monitor per la misura del rate di deposizione, spessore del film, constanti ottiche, all'interno dei sistemi di deposizione per film sottili

Profilometro ottico Profilm3D

Profilometro ottico 3D a luce bianca WLI, primo strumento al mondo ad un costo contenuto che consente di ottenere misure 3D, di rugosità, gradini, in modo semplice ed accurato

Partner

 

Filmetrics è stata fondata nel 1995 con lo scopo di rendere le misure dei film sottili facili e ad un costo competitivo. Questo nuovo concetto ha cambiato lo scenario nel mercato, in quanto prima, il costo di questa tipologia di strumenti per misura dello spessore dei film sottili

Filmetrics ha quindi introdotto un approccio rivoluzionario, attraverso un’elettronica ed un software di controllo che consentono di effettuare misure dello spessore dei film sottili in tempi brevissimi, anche da utenti inesperti che possono essere formati in pochi minuti.

Attualmente abbiamo linee di prodotti:

  • Sistemi per la misura a singolo spot
  • Sistemi per la misura con spot micro
  • Sistemi per la misura e mappatura automatica
  • Sistemi per la misura dei film optical monitor
  • Profilometria ottica

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/wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png 0 0 gambetti /wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png gambetti2019-04-23 17:39:592021-04-24 10:18:39Filmetrics - misura spessore e resistività dei film sottili

KLA – Profilometri a stilo ed ottici 3D

Maggio 16, 2018/in /da auxonet

KLA – Profilometri a stilo, confocali ed interferometrici

Prodotti

Tutto 8 /Profilometri a stilo e ottici 3D - KLA-Tencor 8

Profilometro ottico Profilm3D

Profilometro ottico 3D a luce bianca WLI, primo strumento al mondo ad un costo contenuto che consente di ottenere misure 3D, di rugosità, gradini, in modo semplice ed accurato

Profilometro AlphaStep® D-500

Profilometro a stilo AlphaStep® D-500 con stage manuale

Profilometro AlphaStep® D-600

Profilometro a stilo Alpha-Step® D-600 con stage automatico

Profilometro a stilo P-7

Profilometro a stilo serie P7 con stage automatico

Profilometro a stilo P-17

Profilometro a stilo serie P17 con stage motorizzato ed automazione avanzata

Profilometro ottico Z20

Z20 profilometro ottico confocale di tipo multimodale

Profilometro ottico

Z300 profilometro ottico confocale di tipo multimodale

Profilometro ottico Z-388

Z388 profilometro ottico confocale di tipo multimodale automatizzato

Partner

 

KLA è stata costituita nel maggio del 1997 e nasce dalla fusione di due società (KLA Instruments e Tencor Instruments) leader nel settore della strumentazione di caratterizzazione nell´industria dei semiconduttori. Con un fatturato complessivo di quasi 1 miliardo di dollari e più di 4800 dipendenti, KLA è in grado di offrire una ampia gamma di sistemi di controllo con una produttività senza eguali.

Fondata nel 1976 ed accreditata come azienda pionieristica nel proporre soluzioni ad alta produttività nel mercato dei semiconduttori, KLA, nel 1978, ha iniziato a realizzare sistemi di ispezione che hanno ridotto il tempo di verifica delle fotomaschere da 8 ore a 15 minuti. La società si è quotata in borsa nel 1980 ed ha ampliato molto velocemente la gamma di prodotti per il controllo dei wafers. Due anni più tardi la società è entrata anche nel settore della metrologia dei wafer con strumenti di misura ottici.

KLA ha poi continuato a sviluppare le sue lineee di prodotti, progettando un software di analisi per l´integrazione dei dati delle ispezioni e delle misure. E´ stata la prima società del settore ad offrire un servizio di consulenza tecnica per fornire al cliente soluzioni per il miglioramento della produttività attraverso i propri sistemi di ispezione. Al momento della fusione con Tencor, KLA aveva un fatturato di 695 milioni di dollari e 2500 impiegati in tutto il mondo.

Anche la Tencor fu fondata nel 1976 proponendo Alpha-Step, un profilometro per la caratterizzazione superficiale. Alpha-Step ha fornito un miglioramento significativo nella misura dello spessore dei film sottili che fino ad allora era considerato un parametro critico.

Nel 1984, la società ha introdotto il primo Surfscan basato sulla tecnologia a scansione laser, per la misura della contaminazione superficiale dei wafer, diventato ben presto uno standard nel mercato dei semiconduttori. Negli anni 90, Tencor ha ampliato la sua linea di prodotti inserendo sistemi per l´analisi dei difetti. Nel 1993 ha acquisito la società Prometrix, leader nella produzione di sistemi ottici per la misura dei film sottili. Al momento della fusione con KLA, Tencor aveva un fatturato di 403 milioni di dollari e 1400 impiegati in tutto il mondo.

La Gambetti Kenologia ha rappresentato la società Tencor sino alla fusione nel 1997 con KLA. Nel corso dell´anno KLA ha aperto in Italia un ufficio dedicato ai clienti del mercato dei semiconduttori mentre la Gambetti Kenologia, per quanto riguarda il mercato italiano, ha continuato a distribuire in esclusiva la linea di profilometria e caratterizzazione.

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/wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png 0 0 auxonet /wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png auxonet2018-05-16 12:22:252021-02-18 13:12:56KLA - Profilometri a stilo ed ottici 3D
FX40 Park AFMPark Systems

Park Systems – Microscopi a forza atomica

Maggio 16, 2018/in /da auxonet

Park Systems – Microscopi a forza atomica

Prodotti

Tutto 8 /Microscopi a forza atomica - Park Systems 8
FX40 Park AFMPark Systems

Park Systems FX40

Il microscopio a forza atomica Park FX40 è il primo AFM al mondo di facile utilizzo con tecnologia robotica e self-learning

Microscopio a forza atomica XE7

Il microscopio a forza atomica XE 7 entry level

Microscopio a forza atomica NX10

Il microscopio AFM NX10 di Park System, garantisce accuratezza della costruzione dell’immagine, velocità di scansione, e una durata del tip ineguagliabile

Microscopio a forza atomica NX10 SICM

Microscopio a forza atomica NX10 per analisi SICM

Microscopio a forza atomica NX12

Microscopio a forza atomica NX12 per analisi elettrochimiche ed in liquido

Microscopio a forza atomica XE15

Microscopio a forza atomica per campioni di grandi dimensioni XE 15

Microscopio a forza atomica NX20

Microscopio a forza atomica ad alte prestazioni NX20 per campioni di grandi dimensioni

Microscopio a forza atomica NX-Hivac

NX-HiVAC microscopio a forza atomica in alto vuoto

Partner

 

L’azienda AFM in più rapida crescita con le maggiori risorse.

Park Systems si sforza ogni giorno di essere all’altezza dello spirito innovativo dei suoi inizi. Nel corso della nostra lunga storia, abbiamo onorato il nostro impegno nel fornire gli AFM più accurati e allo stesso tempo molto facili da usare, con caratteristiche rivoluzionarie come la modalità True Non-Contact™ e molti software automatizzati. Non ci accontentiamo semplicemente di basarci sul nostro successo passato. Tutti i nostri prodotti sono progettati con la stessa cura e creatività che è entrata agli inizi, permettendoti di concentrarti su come ottenere risultati senza preoccuparti dell’integrità dei tuoi strumenti.

Dopo oltre un quarto di secolo di continua crescita e innovazione dei prodotti, Park ha la più lunga storia di business degli AFM nel settore. L’azienda ha sviluppato una rete di vendita globale di oltre 30 paesi e ha più di 1000 AFM in uso in tutto il mondo. È l’azienda AFM in più rapida crescita con più di 120 dipendenti a tempo pieno dedicati alla produzione degli AFM più accurate e facili da usare.


https://www.gambetti.it/wp-content/uploads/2021/07/FX40_elementi.jpg 400 400 auxonet /wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png auxonet2018-05-16 12:22:192021-08-01 08:54:05Park Systems - Microscopi a forza atomica

VLSI Standards – Standard per Profilometri, AFM, SEM

Maggio 16, 2018/in /da auxonet

VLSI Standards – Standard per Profilometri, AFM, SEM

Prodotti

Tutto 5 /Standard per Profilometri, AFM, SEM - VLSI Standards 5

Standard di resistività

Standard per resistivita in Silicio drogato n o p

Standard di spessore

Standard di spessore assoluti

Standard di contaminazione

Standard di contaminazioni assoluti (ACS)

Standard dimensionali SEM AFM interferometri

Standard di riferimento dimensionali, per SEM, AFM ed Interferometri

Servizio di ricertificazione per standard

Servizio di ricertificazione standard VLSI

Partner

 

VLSI Standards Inc. nasce a Mountain View in California nel 1984 con lo scopo di sviluppare e produrre campioni di calibrazione e servizi collegati al mercato dei semiconduttori e della metrologia con certificazione NIST.

Gli standard prodotti sono applicabili per la seguente strumentazione:

  • Profilometri
  • AFM
  • SEM
  • misuratori di contaminazione superficiale
  • misuratori di resistività

www

/wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png 0 0 auxonet /wp-content/uploads/2018/05/LOGO-GAMBETTI-1-300x203.png auxonet2018-05-16 12:22:172020-03-27 14:23:32VLSI Standards - Standard per Profilometri, AFM, SEM

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