Sistemi AFM Integrati per Caratterizzazione Chimica Nanoscala
I sistemi Park nanospettroscopia IR rappresentano l’innovazione più avanzata nell’integrazione di spettroscopia infrarossa nanoscala con microscopia a forza atomica (AFM), offrendo capacità senza precedenti per la caratterizzazione chimica avanzata di materiali e dispositivi. Questi sistemi rivoluzionari combinano l’eccellenza della piattaforma AFM Park Systems con la tecnologia PiFM (Photo-induced Force Microscopy) di Molecular Vista.
La gamma di prodotti include Park FX200 IR, Park FX300 IR per applicazioni industriali e Park NX-IR R300 per wafer da 300mm, offrendo prestazioni senza pari nell’analisi simultanea di topografia, proprietà meccaniche e composizione chimica su nanoscala.
La tecnologia PiFM integrata nei sistemi Park rappresenta l’evoluzione della spettroscopia infrarossa nanoscala:
Principi Operativi Superiori:
Vantaggi Rispetto alle Tecniche Tradizionali:
Specifiche FX200 IR:
Applicazioni Ideali:
Capacità Industriali:
Settori Target:
Specifiche Avanzate R300:
Capacità Analitiche:
Sistemi Automatizzati:
Modalità Operative:
Failure Analysis Avanzata:
Ricerca Dispositivi:
Polimeri e Compositi:
Nanomateriali:
Ricerca Cellulare:
Ricerca Farmaceutica:
Sicurezza Campioni:
Piattaforma Unificata:
Assistenza Globale:
Caratteristiche IR:
Capacità Microscopia:
Condizioni Operative:
Analisi Intelligente:
Operazioni Autonome:
Produttori chip, foundries, centri R&D per caratterizzazione dispositivi di nuova generazione.
Università, centri ricerca, industrie per sviluppo materiali innovativi.
Aziende farmaceutiche per controllo qualità e sviluppo formulazioni.
Aziende nanotech per caratterizzazione e controllo prodotti nanoscala.
Programmi Formativi:
Assistenza Continua:
I sistemi Park nanospettroscopia IR rappresentano la soluzione più avanzata per caratterizzazione chimica su nanoscala, combinando l’eccellenza AFM Park Systems con la tecnologia PiFM di Molecular Vista in piattaforme integrate senza precedenti.
La tecnica non-contact PiFM e l’automazione avanzata li rendono essenziali per:
Con i sistemi Park nano-IR, ricercatori e ingegneri dispongono di strumenti che rivoluzionano l’approccio alla caratterizzazione chimica nanoscala, aprendo nuove frontiere nella comprensione e sviluppo di materiali e dispositivi avanzati.
L’investimento in Park nanospettroscopia IR rappresenta una scelta strategica per l’eccellenza nella ricerca e l’innovazione tecnologica.
Park nano-IR offre una risoluzione spaziale superiore a quella della spettroscopia IR convenzionale e di altre tecniche su nanoscala, garantendo al contempo una risoluzione e una precisione di misurazione costantemente elevate durante l’analisi. Utilizzando un metodo senza contatto, previene il danneggiamento del campione ed evita la contaminazione della punta, consentendo misurazioni affidabili. Questa capacità porta l’analisi molecolare nel regno della vera nanoscala, fornendo sia spettri di assorbimento IR che mappatura chimica con una risoluzione spaziale di circa 10 nm e sensibilità monostrato. L’integrazione delle tecniche a banda laterale consente il rilevamento di informazioni sui legami molecolari sottili, con approfondimenti sensibili alla profondità tramite metodi di rilevamento bimodale a guida diretta e a banda laterale.
L’approccio PiFM utilizza una tecnica di rilevamento senza contatto che supera i metodi tradizionali come la risonanza indotta fototermica (PTIR) in termini di risoluzione spaziale, affidabilità di misurazione e sicurezza del campione.
Con Park nano-IR, gli utenti possono ottenere spettri IR ad alta risoluzione e immagini di assorbimento IR su scala nanometrica, consentendo un’analisi chimica dettagliata di materiali complessi. Inoltre, gli spettri IR ad alta risoluzione mostrano un’eccellente correlazione con la spettroscopia FTIR (Fourier Transform Infrared) convenzionale. Metodi di rilevamento avanzati, tra cui tecniche bimodali a trasmissione diretta e a banda laterale, consentono l’estrazione di preziose informazioni sui materiali da diverse profondità.
La microscopia a forza indotta da foto (PiFM) è una tecnica SPM che unisce la spettroscopia a infrarossi (IR) con l’AFM. Consente l’analisi simultanea sia della composizione chimica che della topografia del campione.
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