Microscopio a Forza Atomica ad Alta Risoluzione
Il Park NX1 è un microscopio a forza atomica (AFM) compatto, progettato per l’imaging ad alta risoluzione in condizioni di massima stabilità operativa. Il sistema combina una struttura meccanicamente rigida con un corpo termicamente stabile, garantendo imaging a scala atomica in condizioni ambientali — senza rinunciare alla semplicità d’uso tipica degli strumenti Park Systems.
Il loop meccanico ridotto al minimo tra la sonda e il campione migliora la stabilità strutturale. Il corpo principale dell’AFM è realizzato in Kovar, materiale a bassissima espansione termica, per ridurre la deriva termica durante le misure. Il sistema include uno scanner tubo XYZ per l’imaging e uno stage stick–slip in carburo di tungsteno con contatti cinematici per l’avvicinamento in Z.
Il campione viene posizionato tramite movimento stick–slip XY. Un microscopio ottico on-axis permette l’osservazione simultanea della sonda e del campione durante l’operazione. Il sistema è compatibile con le sonde AFM standard e supporta, in opzione, i sensori qPlus (quartz tuning fork).
Il NX1 dispone di un’architettura compatta e meccanicamente rigida che riduce al minimo il loop meccanico sonda-campione, garantendo basso rumore e alta stabilità. Uno scanner tubo XYZ di precisione, combinato con uno stage stick–slip in carburo di tungsteno e contatti cinematici, assicura un posizionamento stabile. L’utilizzo di materiali a bassa espansione termica riduce la deriva per un imaging coerente a risoluzione atomica.
Allineamento Laser IntuitivoIl NX1 utilizza un sistema di rilevamento beam-bounce con modulo di rilevamento separato, per preservare la stabilità della misura. Il design intuitivo semplifica la configurazione e consente un rapido posizionamento del laser sul cantilever, supportando una rilevazione del segnale stabile e affidabile. |
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Il NX1 raggiunge un noise floor circa un ordine di grandezza inferiore rispetto ai tipici sistemi AFM, grazie alla sua architettura ottimizzata. Questo livello di rumore estremamente ridotto fornisce un ambiente di misura stabile, supportando una rilevazione del segnale consistente e un imaging a risoluzione atomica.
Il NX1 integra un microscopio ottico on-axis ad alta risoluzione che offre una visione diretta sia della sonda che del campione, consentendo un posizionamento preciso della punta e una navigazione efficiente sul campione. L’illuminazione integrata garantisce una visibilità chiara su diversi tipi di campione, semplificando la configurazione e supportando misure affidabili.
Il NX1 supporta un sensore qPlus opzionale basato su un quartz tuning fork per misure avanzate a scala atomica. L’elevata rigidità del sensore consente un’operazione stabile ad ampiezze di picometri, minimizzando il fenomeno del “jump-to-contact”.
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Park SmartScan™Park SmartScan™ ottimizza le operazioni AFM grazie a un’interfaccia intuitiva e workflow automatizzati, consentendo una configurazione più rapida e un imaging di alta qualità con il minimo sforzo da parte dell’utente. |
Park SmartAnalysis™Park SmartAnalysis™ offre elaborazione dati rapida e completa, consentendo un’interpretazione efficiente e una visualizzazione chiara dei risultati. I suoi strumenti avanzati supportano analisi approfondite all’interno di un workflow fluido e facile da usare. |
Il Park NX1 trova applicazione nei seguenti ambiti di ricerca su materiali 2D:
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| Cristallo Singolo di MoS₂ — 2D Materials | Grafene Bistrato Twistato (Twisted Bilayer Graphene) — 2D Materials | HOPG (Highly Oriented Pyrolytic Graphite) — 2D Materials | WSe₂ su Grafene — 2D Materials |
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