VLSI Standards

Standard per Profilometri, AFM, CD-SEM

Prodotti

Standard di resistività

Standard di resistività certificati NIST per calibrazione precisa di strumenti elettrici.

Thickness VLSI standard nitride and dioxide

Standard di contaminazione

Standard di contaminazione per calibrazione strumenti controllo qualità.

VLSI dimensional standard AFM SEM interferometri

Standard dimensionali SEM AFM INTERFEROMETRI

Standard di riferimento dimensionali, per SEM, AFM ed Interferometri

Servizio di ricertificazione per standard

Servizio di ricertificazione standard VLSI

Partner

VLSI Standards Inc. nasce a Mountain View in California nel 1984 con lo scopo di sviluppare e produrre campioni di calibrazione e servizi collegati al mercato dei semiconduttori e della metrologia con certificazione NIST.

Gli standard prodotti sono applicabili per la seguente strumentazione:

Profilometri
AFM
SEM
misuratori di contaminazione superficiale
misuratori di resistività

www

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