MAGCIS Cannone a ioni di argon clusterizzati

Il cannone a ioni di argon clusterizzati, di tipo duale MAGCIS ™ di Thermo Scientific ™ consente analisi di profili “depth profiling” e la pulizia superficiale di materiali soffici e duri sullo stesso strumento XPS.

Il passaggio tra sputtering a gas e sputtering monatomico viene gestito completamente dal software Avantage e può essere eseguito in pochi secondi.

Vantaggi di una sorgente ionica Dual Mode
Indagare i rivestimenti resistenti all’olio su touch screen, misurare rivestimenti depositati via plasma di dispositivi biomedici, studiare LED organici o celle solari mediante il misura dei singoli strati di materiali usando il depth profiling.

Le tradizionali sorgenti di ioni monatomiche utilizzate per molti anni per il depth profiling e per la pulizia delle superfici avevano ed hanno dei limiti quando queste vengono utilizzate su materiali più morbidi come i polimeri. Questi ioni provocheranno danni alla superficie e modificando la chimica del

campione. Le nuove sorgenti di ioni cluster a gas superano queste limitazioni, consentendo l’analisi di diverse classi di materiali precedentemente inaccessibili alla depth profiling XPS.   Link prodotto

Dichiaro di aver preso visione dell‘ informativa sulla privacy ai sensi del regolamento GDPR – art. 13 UE 679/2016 ed autorizzo al trattamento dei miei dati personali al fine dell’invio di informazioni commerciali.

Per maggiori informazioni : Leggi informativa sulla privacy