Park Systems NX10

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Il Park NX10 AFM rappresenta la soluzione ideale per ricercatori indipendenti e strutture di ricerca che necessitano di uno strumento versatile, accessibile e ad alta risoluzione. Questo microscopio a forza atomica combina facilità d’uso con capacità di imaging di precisione nanometrica, producendo immagini inherentemente prive di distorsioni e riproducibili.

Caratteristiche Innovative del Park NX10

True Non-Contact AFM™ – Tecnologia Esclusiva Mondiale

Il Park NX10 è l’unico AFM al mondo dotato della modalità True Non-Contact, che garantisce:

• Preservazione dell’integrità del campione: la punta non tocca mai la superficie
• Durata prolungata delle punte: mantiene l’affilatura per tutto il processo di scansione
• Risoluzione costante: imaging ad alta risoluzione per tutta la durata dell’analisi

Z-Detector a Basso Rumore – Il Migliore del Settore

• Rumore di soli 0.2 Angstrom: performance leader nel mercato AFM
• Sensore strain gauge innovativo: sviluppato esclusivamente da Park Systems
• Risoluzione atomica: capacità di osservare chiaramente i gradini atomici su wafer di zaffiro

Design Scanner Flexure-Based Indipendenti

• Scanner XY e Z separati: eliminazione degli artefatti di scansione
• Movimento ortogonale preciso: movimenti fuori piano inferiori a 1 nm su scansioni di 80 μm
• Sensori di posizione XYZ closed-loop: precisione e accuratezza senza calibrazione

Software SmartScan: Intelligenza Artificiale Integrata

SmartScan Auto Mode

• Imaging con un clic: ottimizzazione automatica dei parametri
• Modalità pre-programmate: configurazioni avanzate pronte all’uso
• Approccio automatico punta-campione: engagement in soli 10 secondi
• Workflow guidato: Setup → Position → Imaging

Facilità d’uso Senza Compromessi

• Cambio punte semplificato: accesso laterale per sostituzione manuale
• Cantilever pre-allineati: nessun allineamento laser richiesto
• Interfaccia intuitiva: controllo tramite script esterni opzionale

Modalità di Scansione Avanzate

Modalità Standard

• Contact AFM e Lateral Force Microscopy (LFM)
• Tapping Mode e Phase Imaging
• True Non-Contact AFM: modalità esclusiva Park Systems

Caratterizzazione Elettrica

• Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
• PinPoint Conductive AFM: AFM conduttivo senza attrito
• I-V Spectroscopy e Electrostatic Force Microscopy
• Scanning Capacitance Microscopy (SCM)

Analisi Magnetiche e Meccaniche

• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
• Force Modulation Microscopy (FMM)
• Nanoindentazione

Modulo SICM (Opzionale)

• Scanning Ion Conductance Microscopy: imaging in liquidi non distruttivo
• Risoluzione fino a 12.5 nm: con nanopipette ultrafini
• Mappatura di conduttività: analisi della conduttività superficiale in soluzione

Specifiche Tecniche Principali

Prestazioni di Scansione

• Range di scansione XY: 100 μm
• Range di scansione Z: 15 μm (30 μm con Z esteso)
• Risoluzione massima: 4096 x 4096 pixel
• Frequenza di risonanza Z: 9 kHz

Sistema di Controllo

• Controller digitale 24-bit: unità ad alta velocità NX
• 18 canali ADC: 4 canali ad alta velocità
• 17 canali DAC: 2 canali ad alta velocità
• 3 canali lock-in amplifier digitale flessibile

Accessori e Opzioni

• Cella liquida universale: imaging in ambiente liquido
• Stage riscaldamento/raffreddamento: -25°C ~ 180°C
• Stage riscaldamento alta temperatura: fino a 600°C
• Cella elettrochimica: per analisi EC-AFM

Applicazioni Principali

Ricerca sui Materiali

• Caratterizzazione di nanomateriali e superfici modificate
• Analisi di proprietà elettriche, magnetiche e termiche
• Studio di interfacce e film sottili

Nanotecnologie

• DNA nanotechnology: imaging strutturale ad alta risoluzione
• Nanoelettronica: caratterizzazione di dispositivi nanoscala
• Catalisi: analisi di superficie di catalizzatori

Scienze della Vita (con modulo SICM)

• Biologia cellulare: imaging di cellule vive in liquido
• Neuroscienza: studio di membrane e canali ionici
• Elettrofisiologia: mappatura di attività elettrica cellulare

Vantaggi Competitivi Park NX10

Accuratezza e Riproducibilità

• Dati pubblicabili: risultati affidabili e riproducibili
• Eliminazione artefatti: design flexure-based avanzato
• Calibrazione automatica: spring constant calibration integrata

Efficienza Operativa

• Risparmio di tempo: da setup a imaging completo automatizzato
• Durata punte estesa: modalità non-contact preserva le punte
• Manutenzione ridotta: design robusto e affidabile

Versatilità Applicativa

• Ampia gamma di modalità: oltre 20 tecniche diverse
• Adattabilità: configurazioni personalizzabili per ogni ricerca
• Modularità: espansione con moduli opzionali

Supporto e Servizi Gambetti

Come rappresentante ufficiale di Park Systems in Italia, Gambetti offre:

• Consulenza tecnica specializzata: supporto nella scelta della configurazione ottimale
• Installazione e training: formazione completa del personale
• Assistenza post-vendita: supporto tecnico continuo e manutenzione
• Aggiornamenti software: accesso alle ultime versioni SmartScan

Richiedi Informazioni

Il Park NX10 AFM rappresenta l’investimento ideale per laboratori di ricerca che richiedono prestazioni elevate, facilità d’uso e versatilità applicativa.

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