Una nuova e rivoluzionaria classe di microscopi a forza atomica per la ricerca nelle Nanoscienze: FX40, il primo AFM automatizzato

Con il nuovo AFM della Park permette di ottenere immagini più nitide, chiare e con un’alta risoluzione, su campioni diversi e su più applicazioni. Potenzia e migliora i tuoi progressi grazie a una velocità e precisione senza precedenti. Tramite l’intelligenza artificiale e la robotica, l’FX40 consente di automatizzare i processi per l’acquisizione di dati alla nanoscala.

Oltre all’estrazione e allo stoccaggio delle informazioni in ogni fase del processo, i sistemi di allarme rapido e di sicurezza consentono a scienziati e ricercatori di ottenere immagini senza precedenti – il tutto senza una formazione specializzata sulla microscopia.

Se fino ad oggi siete stati giustamente scettici sulla difficoltà e la fruibilità nell’utilizzo del microscopio a forza atomica, il Park FX40 vi farà cambiare idea.

Scambio automatico della punta

Con il cambio automatizzato della punta, gli utenti possono ora sostituire le vecchie punte in modo semplice e sicuro in piena automazione. Sfruttando la comodità di una cassetta per otto punte e di un meccanismo magnetico controllato dal software, le sonde possono essere montate senza che l’utente le maneggi.

Lettura automatica della punta

La CCD camera per l’identificazione delle punte legge il codice QR impresso sul chip carrier della sonda appena caricata ed estrae e visualizza tutte le informazioni pertinenti su ciascuna delle punte disponibili, tra cui il tipo, il modello, l’applicazione e l’utilizzo. Questo permette di selezionare la punta migliore adatta a ogni lavoro.

Allineamento automatico del laser

Questa funzione consente l’allineamento automatico del fascio posizionando correttamente il laser e ottimizzando ulteriormente la posizione sia verticalmente che lateralmente. Un semplice clic sposta l’asse X, Y e Z per immagini più chiare e senza distorsioni.