Analisi superficiale quantitativa del primo strato atomico
Il Qtac100 è una innovativa tecnica di altissima sensibilita al primo strato atomico della superficie che utilizza la tecnologia LEIS (low Energy Ion Scattering).
Tale tecnologia fornisce informazioni elementari e strutturali ad altissima risoluzione spaziale su Z, sostanzialmente confinate allo strato atomico emergente alla superficie.
Con tale tecnologia e possibile gestire un piccolo spot di analisi e quindi ottenere immagini superficiali ad alta risoluzione nonche analisi di profili di profondita statici e dinamici.La caratteristica principale del Qtac100 e di non essere una tecnica di indagine distruttiva rendendola cosi particolarmente adatta ai piu’ delicati studi di processi superficiali.
Il Qtac100 vien utilizzato in diversi settori dell’industria e della ricerca quali la catalisi, i semiconduttori, i metalli, i polimeri, le celle a combustibile ed i biomateriali.
Complessivamente i vantaggi distintivi di tale tecnologia sono:
- sensibilita del rivelatore LEIS incrementata di 3000 volte rispetto al rivelatore convenzional
- Analisi chimica quali/quantitativa del solo primo strato superficiale
- Possibilita di indagine spettroscopica e di profilo
- Filtro di massa a tempo di volo per ottenimento di elevate sensibilita
- Analisi di superfici corrugate e non conduttive
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