Sistemi di mappatura automatici

Questi sistemi di mappatura per la misura dello spessore, consentono di ottenere la mappatura 3D su più punti dei vostri campioni, in modo automatico, la dimensione del campione può arrivare fino a 200mm di diametro.

Gli spettrofotometri, sono disponibili su varie lunghezze d’onda da 190 a 1700 nm con diverse tipologie di sorgente luminosa,  per campioni e particolari di dimensioni piccole, è disponibile anche la versione con spot micromerico.

Questi strumenti, sono adatti sia nela ricerca e sviluppo che in ambienti di produzione per l’analisi del singolo wafer, o di campioni planari.

Richiedi Informazioni

Dichiaro di aver preso visione dell‘ informativa sulla privacy ai sensi del regolamento GDPR – art. 13 UE 679/2016 ed autorizzo al trattamento dei miei dati personali al fine dell’invio di informazioni commerciali.

Per maggiori informazioni : Leggi informativa sulla privacy