Spettrometro TOF.SIMS 5

TOF.SIMS 5: collaudato sul campo ed efficiente

Con TOF.SIMS 5 IONTOF offre uno strumento TOF-SIMS collaudato sul campo ed efficiente che supera ancora la maggior parte dei suoi concorrenti. L’attuale design garantisce buone prestazioni in tutti i campi delle applicazioni SIMS, rendendolo uno strumento SIMS estremamente attraente per i clienti dell’industria e del mondo accademico.

Grazie al design modulare, gli strumenti possono essere configurati con una selezione di cannoni ionici ottimizzati, camere per la preparazione dei campioni e una varietà di accessori speciali per affrontare anche le attività analitiche più impegnative. Il controllo computerizzato di tutte le funzioni e i parametri dello strumento assicura facilità d’uso e un elevato livello di automazione.

Lo strumento di base è dotato di un analizzatore TOF reflectron che offre un’elevata trasmissione di ioni secondari con un’alta risoluzione di massa, una camera di campionamento con un manipolatore a 5 assi (x, y, z, rotazione e inclinazione) per una navigazione flessibile, un blocco rapido del carico in entrata , compensazione della carica per l’analisi dei materiali isolanti, un rilevatore di elettroni secondario per l’imaging SEM, un sistema di vuoto all’avanguardia e un ampio pacchetto di computer per l’automazione e la gestione dei dati.

Elevata risoluzione di massa e sensibilità contemporaneamente

TOF.SIMS 5 è dotato di un analizzatore Time-of-Flight di tipo reflectron senza griglia. Il design del riflettore non lineare offre un’elevata trasmissione e un’alta risoluzione di massa in modalità SIMS positivo e negativo. Non è necessario restringere aperture o fessure per raggiungere questo livello di risoluzione di massa. Lo strumento funziona sempre con la trasmissione completa.

Tutti gli strumenti IONTOF SIMS utilizzano una speciale rivelatore di ioni secondari con un singolo channelplate combinazione -scintillator-fotomoltiplicatore. La durata di tale rivelatore è circa 1.000 volte superiore a quella dei rivelatori convenzionali “dual channel plate”. Il rilevatore può anche elaborare elevate velocità di conteggio senza soffrire del degrado del rivelatore. Quindi la soppressione di picchi di ioni matrice intensi non è affatto necessaria. In combinazione con la tecnologia brevettata IONTOF EDR, TOF.SIMS 5 offre una gamma dinamica fino a sette ordini di grandezza.

Bismuto Nanoprobe

Il cavallo di battaglia ideale per le tue sfide analitiche quotidiane

Bi Nanoprobe è la sorgente ionica primaria standard per tutte le applicazioni di spettrometria, imaging e depth profiling ad alte prestazioni. La sorgente fornisce correnti di analisi elevate fino a 20 pA per la spettrometria di rilevamento in tracce e l’analisi di profili in profondità di fascia alta.

Nella modalità di imaging veloce, è possibile acquisire l’immagine in pochi minuti con una risoluzione laterale leggermente ridotta. L’immagine a destra mostra l’analisi del campione standard BAM in modalità di imaging veloce.

Nell’ultima modalità di imaging, le dimensioni del punto del fascio possono essere ridotte a ben al di sotto di 70 nm per immagini eccellenti ad alta risoluzione. L’immagine a sinistra mostra l’analisi di un campione standard BAM.

Immagine della superficie che mostra la distribuzione dell’alluminio su un campione standard (L-200, fornito dalla BAM tedesca). L’immagine mostra una risoluzione laterale inferiore a 50 nm. Ione primario: Bi3 ++, Campo visivo: 8 x 8 µm2, Dimensione pixel: 15 nm Immagine della superficie che mostra la distribuzione dell’alluminio su un campione standard (L-200, fornito dalla BAM tedesca). L’immagine mostra una risoluzione laterale inferiore a 50 nm. Ione primario: Bi3 ++, Campo visivo: 8 x 8 µm2, Dimensione pixel: 15 nm

TOF.SIMS 5 caratteristiche e accessori

  1. Dimensione del campione fino a 100 mm e 300 mm
  2. Ampia gamma di sorgenti ioniche (Bin, O2, Ar, Xe, Cs, Arn, Ga)
  3. Gamma dinamica estesa fino a sette ordini di grandezza
  4. Riscaldamento e raffreddamento del campione a temperatura controllata durante l’analisi e il trasferimento del campione
  5. Rotazione rapida del campione durante il depth profiling
  6. 20 kV post-accelarazione
  7. Compensazione della carica a bassa energia con flood gun
  8. Frequenza di ripetizione 50 kHz
  9. Design ergonomico con ingombro ridotto
  10. Bakeout interno
  11. Elettronica modulare per la manutenzione dei plug-in
  12. Sistema da vuoto a basso rumore senza lubrificazione e acqua

13. Elevato up time e di facile manutenzione

Dichiaro di aver preso visione dell‘ informativa sulla privacy ai sensi del regolamento GDPR – art. 13 UE 679/2016 ed autorizzo al trattamento dei miei dati personali al fine dell’invio di informazioni commerciali.

Per maggiori informazioni : Leggi informativa sulla privacy