Standard di Topografia Superficiale per Calibrazione Microscopi AFM e Interferometrici
Rimanete sempre all’avanguardia nella calibrazione sonde 3D con i nostri Standard di Topografia Superficiale (STS). Questi innovativi standard utilizzano una combinazione di altezza step e pitch per consentire la calibrazione topografica tridimensionale di microscopi interferometrici ottici e microscopi a forza atomica (AFM).
Gli Standard di Topografia Superficiale rappresentano l’eccellenza nella calibrazione dimensionale grazie alla loro innovativa tecnologia a pattern waffle in silicio.
Il nostro standard dimensionale tracciabile consiste in un die di silicio da 12 mm x 8 mm con un cluster di pitch modellato in uno strato di biossido di silicio. Questa configurazione unica offre:
La nostra gamma di standard topografia superficiale offre due configurazioni principali per soddisfare diverse esigenze di calibrazione microscopi AFM e interferometrici.
Il modello STS2 è progettato per applicazioni ad alta risoluzione con pitch fini:
Il modello STS3 copre range di pitch più ampi per applicazioni generali:
I nostri standard dimensionali sono disponibili in quattro configurazioni di altezza step per coprire l’intero range di applicazioni topografiche:
I nostri standard per calibrazione AFM offrono prestazioni superiori per:
Gli standard per microscopi interferometrici garantiscono:
Massimizza le prestazioni dei tuoi microscopi AFM e interferometrici con i nostri standard di topografia superficiale certificati e tracciabili. La nostra tecnologia pattern waffle garantisce calibrazioni precise e ripetibili per le tue applicazioni più critiche.
Contattaci per consulenza tecnica specializzata nella selezione degli standard dimensionali più adatti alle tue esigenze specifiche di calibrazione topografica 3D.
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