Mappatura automatizzata dello spessore del film F54
F54 Misura la mappatura dei film sottili, per campioni fino a 200mm di diametro
Prodotti
Misuratore della resistività R50
R50 Misuratore della resistività dei film
Sistemi di mappatura automatici
Spettrofotometri per la mappatura 3D automatica dei film sottili su più punti, per dimensioni fino a 200mm di diametro e con diverse lunghezze d'onda
Misurazioni microscopiche a singolo punto
Sistema per la misura dello spessore dei film sottili con spot di 1 um, adattabile anche mu microscopi ottici esistenti, grazie all'adattatore Cmount.
Misurazioni dello spessore a singolo punto
Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d'onda da 190 a 1690 nm.
Optical monitor per processi in linea
Sistemi optical monitor per la misura del rate di deposizione, spessore del film, constanti ottiche, all'interno dei sistemi di deposizione per film sottili
Profilometro ottico Profilm3D
Profilometro ottico 3D a luce bianca WLI, primo strumento al mondo ad un costo contenuto che consente di ottenere misure 3D, di rugosità, gradini, in modo semplice ed accurato
Partner
Filmetrics è stata fondata nel 1995 con lo scopo di rendere le misure dei film sottili facili e ad un costo competitivo. Questo nuovo concetto ha cambiato lo scenario nel mercato, in quanto prima, il costo di questa tipologia di strumenti per misura dello spessore dei film sottili
Filmetrics ha quindi introdotto un approccio rivoluzionario, attraverso un’elettronica ed un software di controllo che consentono di effettuare misure dello spessore dei film sottili in tempi brevissimi, anche da utenti inesperti che possono essere formati in pochi minuti.
Attualmente abbiamo linee di prodotti:
- Sistemi per la misura a singolo spot
- Sistemi per la misura con spot micro
- Sistemi per la misura e mappatura automatica
- Sistemi per la misura dei film optical monitor
- Profilometria ottica
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Park Systems