Spettrometro ESCALAB QXi XPS

Lo spettrometro XPS ESCALAB 250 Xi+ soddisfa le richieste di coloro che  necessitano di maggiori prestazioni analitiche unite alla flessibilità. ESCALAB™ 250Xi+ X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS)  combina alta sensibilità ed alta risoluzione con immagini quantitative e la possibilità di integrare altre tecniche analitiche.

Grazie alla sua espandibilità con multi tecniche , Escalab 250 Xi ha raggiunto livelli di flessibilità  eccellenti;  la sua sensibilità e l’elevata velocità delle scansioni sono in grado di produrre risultati nell´arco di qualche secondo. Il sistema di controllo, l´acquisizione e l´elaborazione di dati ed i relativi report sono perfettamente integrati con il potente Thermo Scientific™ “Plan Avantage Data System.

ESCALAB 250 Xi offre la possibilità di “signature-free” un imaging parallelo con una risoluzione di < 3 µm.

Per la spettroscopia di piccole aree, lo strumento utilizza tre metodi per definire l´area di analisi:

• Source-defined area selection – il fascio di raggi X monocromatico può essere messo a fuoco per le dimensioni del fascio variabili da 900 µm a 200 µm.
• Lens-defined area selection – gestito dal computer; le iridi nella lente di trasferimento possono essere impostate in modo da ottenere una risoluzione laterale fino a 20 µm.
• Retrospective spectroscopy from images – usa una metodologia  di imaging parallelo ad alta risoluzione; si possono ottenere spettri da aree di circa 5 µm .

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