Park NX20 AFM:

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Il Park NX20 AFM rappresenta la soluzione definitiva per ingegneri e tecnici che si occupano di analisi difetti, controllo qualità e nanometrologia nei settori semiconduttori e hard disk. Questo strumento eccezionale è stato progettato specificamente per affrontare le sfide più complesse dell’industria moderna, dove ogni difetto nanometrico può compromettere intere produzioni.

Quando la Precisione Non Ammette Compromessi

Nel mondo dei semiconduttori e dell’elettronica avanzata, un singolo difetto invisibile all’occhio umano può causare il fallimento di dispositivi da milioni di euro. Il Park NX20 elimina questa preoccupazione offrendo capacità di imaging e analisi senza precedenti per campioni di grandi dimensioni, dai piccoli chip fino a wafer completi da 300mm.

La modalità True Non-Contact™ esclusiva di Park Systems garantisce che le punte rimangano affilate anche dopo centinaia di scansioni su superfici abrasive, riducendo drasticamente i costi operativi e aumentando l’affidabilità delle misure. Questo significa meno interruzioni, maggiore produttività e risultati sempre coerenti per i vostri team di analisi.

Progettato per l’Efficienza Industriale

Il Park NX20 risolve uno dei problemi più frustranti dei laboratori di controllo qualità: la complessità d’uso. Grazie al software SmartScan™, anche operatori senza esperienza specifica in AFM possono ottenere risultati professionali in pochi minuti. Questo libera ingegneri senior per concentrarsi su analisi più complesse e sviluppo soluzioni innovative.

Il sistema supporta misurazioni automatizzate programmate su aree estese, permettendo analisi sistematiche di interi wafer senza supervisione continua. La piattaforma motorizzata da 300x300mm elimina la necessità di spostamenti manuali del campione, riducendo rischi di contaminazione e tempi morti.

Applicazioni che Fanno la Differenza

Nell’analisi dei difetti semiconductori, il Park NX20 rileva impurità, rugosità superficiale anomale e deformazioni strutturali con risoluzione sub-nanometrica. Per il controllo qualità hard disk, identifica difetti su testine di lettura e superfici magnetiche che potrebbero compromettere prestazioni e affidabilità.

Le misure di rugosità superficiale sono cruciali per garantire aderenza di rivestimenti e funzionalità di dispositivi ottici. Il Park NX20 fornisce dati quantitativi precisi e riproducibili, fondamentali per certificazioni e ottimizzazioni di processo.

Tecnologia Industriale Affidabile

Il cuore del sistema integra il rilevatore Z ultra-low-noise (0.02 nm) che elimina errori di misura anche durante scansioni ad alta velocità. Gli scanner flexure-based garantiscono movimenti ortogonali perfetti senza distorsioni, mentre il sistema ottico avanzato offre visione diretta del campione per navigazione precisa.

La modularità del design permette espansioni future con nuove tecniche di analisi, mentre il supporto vacuum chuck gestisce wafer di diverse dimensioni e tipologie senza rischi di danneggiamento.

Investimento in Produttività

Scegliere il Park NX20 significa investire in efficienza operativa e qualità dei risultati. La riduzione dei tempi di analisi, l’eliminazione di errori di misura e la possibilità di automatizzare controlli di routine si traducono in risparmi significativi e miglioramento della competitività.

Il supporto Gambetti garantisce implementazione ottimale, formazione specializzata e assistenza continua per massimizzare il ritorno dell’investimento e mantenere operatività al 96%+ come documentato dai clienti industriali.

Contattate Gambetti per scoprire come il Park NX20 può trasformare i vostri processi di controllo qualità e analisi difetti in un vantaggio competitivo decisivo.