Misurazioni dello spessore a singolo punto
Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d’onda da 190 a 1690 nm.
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Sistemi optical monitor per la misura del rate di deposizione, spessore del film, constanti ottiche, all’interno dei sistemi di deposizione per film sottili
Saremo presenti alla XXIV conferenza dell’Associazione Italiana del Vuoto che si terrà a dal 7 al 10 Maggio presso il centro conference Hilton/RG Hotel di Giardini Naxos. Per scaricare il programma
KLA ha recentemente acquisito la società FILMETRICS leader nella produzione du strumenti di misura dei film sottili. Strumenti ad un costo competitivo, facili da usare e ad alte prestazioni. www.filmetrics.com
Saremo presenti al congresso internazionle sui plasmi ISPC24 che si terrà a Napoli dal 9-14 luglio presso il Centro Congressi della Stazione marittima di Napoli. Link al sito del congresso ISPC24
Siamo presenti al XXIII congresso di Biofisica Applicata che si tiene a Venezia dal dal 4 al 8 Febbraio 2019, con i Nanoindentatori di KLA
Plasma a bassa pressione a microonde per la modifica superficiale, etching, pulizia e il miglioramento dell’adesione.
Park Systems annuncia il 2 ° NanoScientific Forum Europeo dall’11 al 13 settembre 2019 presso l’Università di Bologna Park Systems and University of Bologna are proud to announce the 2nd NanoScientific Forum Europe (NSFE2019) to be held at University of Bologna Sept. 11-13, 2019. Registration will begin Feb. 2019. The NSFE2019 will include an […]
Da MKS Instruments è disponibilie il nuovo Process Sense™ TFS™, il sensore di endpoint per processi di pulizia della camera di processo Per maggiori informazioni : Process Sense™ TFS™