GAMBETTI KENOLOGIA SRL
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353 risultati per la ricerca di:
M6 SIMS
IONTOF M6 TOF-SIMS: risoluzione laterale <50nm, modalità delayed extraction, Nanoprobe 50. Benchmark per analisi superficiali ad alta precisione.
M6 PLUS SIMS
M6 Plus SIMS che unisce la composizione chimica, alle proprietà fisiche e alla struttura tridimensionale dei materiali e dispositivi su scala nanometrica
M6 HYBRID SIMS
IONTOF M6 Hybrid SIMS: primo strumento commerciale con Orbitrap per TOF-SIMS. Risoluzione >240,000, accuratezza <1ppm, ideale per analisi organiche.
AFM IR
Nano Day 2019
La Gambetti Kenologia Srl, parteciperà alla quarta edizione del convegno NanoDay,dal 11 al 14 Dicembre 2019 che si terrà a Milano, presso l’Università di Milano – Bicocca. L’evento è organizzato dall’Università Milano- Bicocca in collaborazione con Consorzio Italbiotec e Consorzio Interuniversitario Nazionale per le Scienze Ambientali. Il convegno rappresenta un importante punto d’incontro per i giovani ricercatori che lavorano nel […]