Mappatura dei film sottili
F54 è il nuovo strumento di Filmetrics per la misura e la mappatura dello spessore dei film sottili Per maggiori informazioni
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F54 è il nuovo strumento di Filmetrics per la misura e la mappatura dello spessore dei film sottili Per maggiori informazioni
Filmetrics F54-XY: sistema mappatura automatica spessore film fino a 300mm. Stage motorizzato, spot 5μm, 2 punti/sec. Wafer patterned e non.
Nuovo misuratore della resistività di Filmetrics, a contatto 4P e non a contatto eddy current Per maggiori informazioni
Filmetrics R50: sistema misurazione sheet resistance 4PP e Eddy Current. Stage 300mm, range 10 decadi, mappatura. Per semiconduttori e solare
[NSFE2020] Program Update and Keynote Abstract Booklet available! https://lnkd.in/dGzqUaJ Join the NanoScientific Forum Europe and be a part of the exciting #SPM keynote talks with i.a. Prof. Franz Giessibl, (University of Regensburg), Prof. Silke Christensen (IKTS/INAM), Prof. Lukas Eng (TU Dresden), Prof. Ken Nakajima (TIT, Japan), Prof. Kim McKelvey (Trinity College Dublin), Prof. Brain Rodriguez […]