Avantage - software per l'analisi di superficii
Software Avantage per l'analisi di superficie XPS
Partner
Thermo Scientific è uno dei maggiori gruppi industriali al mondo per la fornitura di strumentazione analitica, con un fatturato che ha superato i 18 M di $ nell’ultimo anno e con più di 50.000 occupati in 50 paesi del mondo.
Gambetti Kenologia rappresenta in Italia la divisione degli strumenti per analisi superficiale XPS (Photon electron X-Ray Spettroscopy) di Thermo Scientific
La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica utilizzata per analizzare la chimica delle superfici di un materiale. Con questa tecnica si può misurare la composizione elementare, la formula empirica, lo stato chimico e lo stato elettronico degli elementi di un materiale.
Gli Spettri XPS sono ottenuti irradiando una superficie solida con un fascio di raggi X e, contemporaneamente, misurando l’energia cinetica degli elettroni che vengono emessi dai primi strati superficiali (da 1 a 10 nm del materiale analizzato).
Spettrometro XPS Nexsa
Spettrometro XPS Nexsa con RAMAN
Spettrometro XPS ESCALAB 250 Xi+
Lo spettrometro XPS ESCALAB 250 Xi+ soddisfa le richieste di coloro che necessitano di maggiori prestazioni analitiche unite alla flessibilità.
Spettrometro XPS Theta Probe
XPS Theta Probe ad angolo risolto
Spettrometro XPS compatto K-Alpha+
Lo spettrometro Thermo Scientific™ K-Alpha™ XPS è stato progettato per fornire risultati di alta qualità sulla base di un flusso di lavoro semplificato. Ha un funzionamento semplice e intuitivo, senza dover rinunciare alle capacità di analisi sia in termini di performance che di XPS.
MAGCIS Cannone a ioni di argon clusterizzati
MAGCIS™ cannone ad ioni di argon clusterizzati
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Thermo Scientific è uno dei maggiori gruppi industriali al mondo per la fornitura di strumentazione analitica, con un fatturato che ha superato i 18 M di $ nell’ultimo anno e con più di 50.000 occupati in 50 paesi del mondo.
Gambetti Kenologia rappresenta in Italia la divisione degli strumenti per analisi superficiale XPS (Photon electron X-Ray Spettroscopy) di Thermo Scientific
La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica utilizzata per analizzare la chimica delle superfici di un materiale. Con questa tecnica si può misurare la composizione elementare, la formula empirica, lo stato chimico e lo stato elettronico degli elementi di un materiale.
Gli Spettri XPS sono ottenuti irradiando una superficie solida con un fascio di raggi X e, contemporaneamente, misurando l’energia cinetica degli elettroni che vengono emessi dai primi strati superficiali (da 1 a 10 nm del materiale analizzato).
QTAC 100 analisi superficiale LEIS
Il Qtac100 per l'analisi LEIS (low Energy Ion Scattering)
Spettrometro Hybrid SIMS analisi biomolecolare
Hybrid SIMS per l'analisi biomolecolare
Spettrometro TOF SIMS 5
TOF.V spettrometro TOF-SIMS
Partner
La società ION TOF è un´azienda leader nella realizzazione di sistemi analitici di superficie di tipo TOF SIMS (Time of Flight – Secondary Ions Mass Spectroscopy) e LEIS (high sensitive Low Energy Ion Scattering).
La società , fondata dal Prof. Alfred Benninghoven nel 1989, ha iniziato la sua attività , commercializzando le soluzioni analitiche realizzate grazie alle pionieristiche ricerche del Prof. Benninghoven e del suo team di ricercatori dell´Università di Munster.
Sin dall´inizio il contributo tecnologico e scientifico delle ricerche condotte presso l´Università di Munster ha avuto un ruolo cruciale per il successo commerciale dei prodotti.
Nel frattempo la tecnica TOF SIMS si è affermata come una delle più efficaci e potenti tecniche di investigazione della composizione chimica delle superfici e degli strati vicini alla superficie.
Di più recente introduzione invece è la tecnica LEIS, che consente l´investigazione chimica non distruttiva della composizione chimica, e della relativa distribuzione spaziale, delle specie presenti nel solo primo strato atomico di superficie.
Dalle prime realizzazioni ad oggi, sono state introdotte molte innovazioni che hanno migliorato le caratteristiche di risoluzione spaziale e di affidabilità , ed attualmente sono in esercizio circa 160 strumenti in tutto il mondo.
Il costante coinvolgimento in progetti di ricerca universitari, in modo particolare nel settore delle Nanotecnologie, consente di avere un contatto diretto con i problemi e le richieste di potenzialità analitica che vengono avanzati.
Questo aspetto risulta di grande impulso per lo sviluppo scientifico e tecnologico del portafoglio prodotti.
ION TOF lavora in simbiosi con TASCON, la quale attraverso dimostrazioni e servizi di analisi conto terzi permette un facile e consistente approccio alle potenzialità analitiche delle tecniche TOF SIMS e LEIS.
