Filmetrics è stata fondata nel 1995 con lo scopo di rendere le misure dei film sottili facili e ad un costo competitivo. Questo nuovo concetto ha cambiato lo scenario nel mercato, in quanto prima, il costo di questa tipologia di strumenti per misura dello spessore dei film sottili

Filmetrics ha quindi introdotto un approccio rivoluzionario, attraverso un’elettronica ed un software di controllo che consentono di effettuare misure dello spessore dei film sottili in tempi brevissimi, anche da utenti inesperti che possono essere formati in pochi minuti.

Attualmente abbiamo linee di prodotti:

• Sistemi per la misura a singolo spot
• Sistemi per la misura con spot micro
• Sistemi per la misura e mappatura automatica
• Sistemi per la misura dei film optical monitor
• Profilometria ottica

Link sito Filmetrics

La società di AFM con la crescita più rapida e con le maggiori risorse.

Park Systems si sforza ogni giorno di essere all´altezza dello spirito innovativo dei suoi inizi. Nel corso della sua lunga storia, ha sempre onorato l´impegno nel fornire i microscopi a forza atomica AFM più precisi e facili da usare, con funzionalità rivoluzionarie come la modalità True Non-Contact ™ e molti software automatici. Park non si accontanta di riposare sul successo passato, ma vuole continuamente innovare e migliorarsi. Tutti i prodotti sono progettati con la stessa cura e creatività del primo, permettendoti di concentrarti sull´ottenere risultati senza preoccuparti dell´integrità dei tuoi strumenti.

Dopo oltre un quarto di secolo di crescita continua e innovazione di prodotto, Park ha la più lunga storia di business AFM nel settore. La società ha sviluppato una rete di vendita globale di oltre 30 paesi e ha oltre 1000 AFM in uso in tutto il mondo. È la società AFM in più rapida crescita con oltre 120 dipendenti a tempo pieno dedicati alla produzione degli AFM più precisi e facili da usare.

Sito Park System

ULVAC Inc. è una nota Società Giapponese Multinazionale che opera, sindal 1952, nel settore del Vuoto e delle tecnologie ad esso correlate.
Rimane forse la solo multinazionale che produce tutta la filiera del vuoto “in verticale”, ovvero dalla singola pompa sino ad un impianto completo di deposizione per films sottili o di etching per il mercato  dei semiconduttori,  per i produttori di FPD, impianti a film sottile per ottica ecc..

La Gambetti Kenologia collabora con ULVAC per quanto concerne la ellissometria spettroscopica,  promuovendo sul mercato Italiano un interessante ellissometro della serie UNECS, molto innovativo e di semplice utilizzo rispetto agli strumenti tradizionali.

Commercializziamo inoltre la gamma ULVAC dei cercafughe ad Elio e sniffer della serie HELIOT, che hanno alcune caratteristiche che li differenziano rispetto agli strumenti attualmente sul mercato.

Sito ULVAC

KLA è stata costituita nel maggio del 1997 e nasce dalla fusione di due società (KLA Instruments e Tencor Instruments) leader nel settore della strumentazione di caratterizzazione nell´industria dei semiconduttori. Con un fatturato complessivo di quasi 1 miliardo di dollari e più di 4800 dipendenti, KLA è in grado di offrire una ampia gamma di sistemi di controllo con una produttività senza eguali.

Fondata nel 1976 ed accreditata come azienda pionieristica nel proporre soluzioni ad alta produttività nel mercato dei semiconduttori, KLA, nel 1978, ha iniziato a realizzare sistemi di ispezione che hanno ridotto il tempo di verifica delle fotomaschere da 8 ore a 15 minuti. La società si è quotata in borsa nel 1980 ed ha ampliato molto velocemente la gamma di prodotti per il controllo dei wafers. Due anni più tardi la società è entrata anche nel settore della metrologia dei wafer con strumenti di misura ottici.

KLA ha poi continuato a sviluppare le sue lineee di prodotti, progettando un software di analisi per l´integrazione dei dati delle ispezioni e delle misure. E´ stata la prima società del settore ad offrire un servizio di consulenza tecnica per fornire al cliente soluzioni per il miglioramento della produttività attraverso i propri sistemi di ispezione. Al momento della fusione con Tencor, KLA aveva un fatturato di 695 milioni di dollari e 2500 impiegati in tutto il mondo.

Anche la Tencor fu fondata nel 1976 proponendo Alpha-Step, un profilometro per la caratterizzazione superficiale. Alpha-Step ha fornito un miglioramento significativo nella misura dello spessore dei film sottili che fino ad allora era considerato un parametro critico.

Nel 1984, la società ha introdotto il primo Surfscan basato sulla tecnologia a scansione laser, per la misura della contaminazione superficiale dei wafer, diventato ben presto uno standard nel mercato dei semiconduttori. Negli anni 90, Tencor ha ampliato la sua linea di prodotti inserendo sistemi per l´analisi dei difetti. Nel 1993 ha acquisito la società Prometrix, leader nella produzione di sistemi ottici per la misura dei film sottili. Al momento della fusione con KLA, Tencor aveva un fatturato di 403 milioni di dollari e 1400 impiegati in tutto il mondo.

La Gambetti Kenologia ha rappresentato la società Tencor sino alla fusione nel 1997 con KLA. Nel corso dell´anno KLA ha aperto in Italia un ufficio dedicato ai clienti del mercato dei semiconduttori mentre la Gambetti Kenologia, per quanto riguarda il mercato italiano, ha continuato a distribuire in esclusiva la linea di profilometria e caratterizzazione.

Sito KLA

KLA è stata costituita nel maggio del 1997 e nasce dalla fusione di due società (KLA Instruments e Tencor Instruments) leader nel settore della strumentazione di caratterizzazione nell´industria dei semiconduttori. Con un fatturato complessivo di quasi 1 miliardo di dollari e più di 4800 dipendenti, KLA è in grado  di offrire una ampia gamma di sistemi di controllo con una produttività senza eguali.

Fondata nel 1976 ed accreditata come azienda pionieristica nel proporre soluzioni ad alta produttività nel mercato dei semiconduttori, KLA, nel 1978, ha iniziato a realizzare sistemi di ispezione che hanno ridotto il tempo di verifica delle fotomaschere da 8 ore a 15 minuti. La società si è quotata in borsa nel 1980 ed ha ampliato molto velocemente la gamma di prodotti per il controllo dei wafers. Due anni più tardi la società è entrata anche nel settore della metrologia dei wafer con strumenti di misura ottici.

KLA ha poi continuato a sviluppare le sue lineee di prodotti, progettando un software di analisi per l´integrazione dei dati delle ispezioni e delle misure. E´ stata la prima società del settore ad offrire un servizio di consulenza tecnica per fornire al cliente soluzioni per il miglioramento della produttività attraverso i propri sistemi di ispezione. Al momento della fusione con Tencor, KLA aveva un fatturato di 695 milioni di dollari e 2500 impiegati in tutto il mondo.

Anche la Tencor fu fondata nel 1976 proponendo Alpha-Step, un profilometro per la caratterizzazione superficiale. Alpha-Step ha fornito un miglioramento significativo nella misura dello spessore dei film sottili che fino ad allora era considerato un parametro critico.

Nel 1984, la società ha introdotto il primo Surfscan basato sulla tecnologia a scansione laser, per la misura della contaminazione superficiale dei wafer, diventato ben presto uno standard nel mercato dei semiconduttori. Negli anni 90, Tencor ha ampliato la sua linea di prodotti inserendo sistemi per l´analisi dei difetti. Nel 1993 ha acquisito la società Prometrix, leader nella produzione di sistemi ottici per la misura dei film sottili. Al momento della fusione con KLA, Tencor aveva un fatturato di 403 milioni di dollari e 1400 impiegati in tutto il mondo.

La Gambetti Kenologia ha rappresentato la società Tencor sino alla fusione nel 1997 con KLA. Nel corso dell´anno KLA ha aperto in Italia un ufficio dedicato ai clienti del mercato dei semiconduttori mentre la Gambetti Kenologia, per quanto riguarda il mercato italiano, ha continuato a distribuire in esclusiva la linea di profilometria e caratterizzazione.

Sito KLA

La società di AFM con la crescita più rapida e con le maggiori risorse.

Park Systems si sforza ogni giorno di essere all´altezza dello spirito innovativo dei suoi inizi. Nel corso della sua lunga storia, ha sempre onorato l´impegno nel fornire i microscopi a forza atomica AFM più precisi e facili da usare, con funzionalità rivoluzionarie come la modalità True Non-Contact ™ e molti software automatici. Park non si accontanta di riposare sul successo passato, ma vuole continuamente innovare e migliorarsi. Tutti i prodotti sono progettati con la stessa cura e creatività del primo, permettendoti di concentrarti sull´ottenere risultati senza preoccuparti dell´integrità dei tuoi strumenti.

Dopo oltre un quarto di secolo di crescita continua e innovazione di prodotto, Park ha la più lunga storia di business AFM nel settore. La società ha sviluppato una rete di vendita globale di oltre 30 paesi e ha oltre 1000 AFM in uso in tutto il mondo. È la società AFM in più rapida crescita con oltre 120 dipendenti a tempo pieno dedicati alla produzione degli AFM più precisi e facili da usare.

Sito Park System

VLSI Standards Inc. nasce a Mountain View in California nel 1984 con lo scopo di sviluppare e produrre campioni di calibrazione e servizi collegati al mercato dei semiconduttori e della metrologia con certificazione NIST.

Gli standard prodotti sono applicabili per la seguente strumentazione:

• Profilometri
• AFM
• SEM
• misuratori di contaminazione superficiale
• misuratori di resistività

Sito VLSI

Thermo Scientific è uno dei maggiori gruppi industriali al mondo per la fornitura di strumentazione analitica, con un fatturato che ha superato i  18 M di $ nell’ultimo anno e con  più di 50.000 occupati in 50 paesi del mondo.

Gambetti Kenologia rappresenta in Italia la divisione degli strumenti per analisi superficiale XPS (Photon electron X-Ray Spettroscopy) di Thermo Scientific

La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica utilizzata per analizzare la chimica delle superfici di un materiale. Con questa tecnica si può misurare la composizione elementare, la formula empirica, lo stato chimico e lo stato elettronico degli elementi di un materiale.

Gli Spettri XPS sono ottenuti irradiando una superficie solida con un fascio di raggi X e, contemporaneamente, misurando l’energia cinetica degli elettroni che vengono emessi dai primi strati superficiali (da 1 a 10 nm del materiale analizzato).

Sito Thermo Scientific XPS