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Il microscopio AFM NX10 di Park System, garantisce accuratezza della costruzione dell’immagine, velocità di scansione, e una durata del tip ineguagliabile
Microscopio a forza atomica NX12 per analisi elettrochimiche ed in liquido
Microscopio a forza atomica ad alte prestazioni NX20 per campioni di grandi dimensioni
NX-HiVAC microscopio a forza atomica in alto vuoto
Spettrometro XPS Nexsa con RAMAN
Standard per resistivita in Silicio drogato n o p
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Standard di riferimento dimensionali, per SEM, AFM ed Interferometri
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