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Il microscopio a forza atomica Park FX40 è il primo AFM al mondo di facile utilizzo con tecnologia robotica e self-learning
Il microscopio AFM NX10 di Park System, garantisce accuratezza della costruzione dell’immagine, velocità di scansione, e una durata del tip ineguagliabile
Park NX12 AFM: piattaforma integrata unica con AFM+SICM+SECM+SECCM+Optical Microscopy. Ideale per chimica analitica, elettrochimica e facilities condivise.
NX7 AFM: microscopio a forza atomica research-grade accessibile con tecnologie avanzate Park Systems. Ideale per primi passi nella ricerca su nanoscala.
Park NX20 AFM: strumento leader per failure analysis, controllo qualità e nanometrologia semiconduttori. Campioni grandi fino 300mm con precisione nanometrica.
Park NX-Hivac AFM: l’unico sistema high-vacuum per failure analysis semiconduttori con SSRM avanzato. Sensibilità 4x superiore in ambiente controllato.
AFM Park FX200: wafer 200mm con automazione avanzata. Sostituzione sonde automatica, StepScan™, True Non-Contact™
Filmetrics F60-T: sistema produzione industriale film thickness. Notch finding automatico, computer integrato, stage chiuso. Per fab semiconduttori
Filmetrics F54: sistema mappatura microscopica film fino a 450mm. Autofocus, camera video, spot microscopico, 2 punti/sec. Per semiconduttori, LCD.
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